產(chǎn)品概述：
EXFO OPAL-SD單晶片半自動探針臺以其高精度、可重復(fù)性、自動化、可追溯性、靈活性和可擴(kuò)展性等特點(diǎn)，在集成光子器件的測試領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。無論是科研還是工業(yè)生產(chǎn)中的測試需求，該設(shè)備都能提供準(zhǔn)確可靠的測試結(jié)果，并幫助用戶優(yōu)化測試流程和提高測試效率。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
高精度與可重復(fù)性：
OPAL-SD單晶片半自動探針臺配備了高精度DC、RF手動探針定位器以及超精密的光探針，確保了測試的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
探針定位器能夠精確調(diào)整卡盤和裸片的位置，從而實(shí)現(xiàn)微米級甚至納米級的定位精度。
自動化與可追溯性：
該設(shè)備結(jié)合了PILOT軟件套件，提供了一個全面、靈活、可擴(kuò)展的解決方案，能夠自動化測試流程并處理測量結(jié)果。
PILOT軟件還提供了數(shù)據(jù)分析和人工智能建模功能，幫助用戶將PIC的測量結(jié)果轉(zhuǎn)化為正確決策和行動。
借助優(yōu)良的自動化軟件，用戶可以定義并維護(hù)電路元件、設(shè)計參數(shù)、模擬結(jié)果、實(shí)驗結(jié)果和條件之間的邏輯結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)絕對可追溯性。
靈活性與可擴(kuò)展性：
OPAL-SD平臺的設(shè)計非常靈活，可以通過同時設(shè)置多達(dá)4個探針的任意組合來滿足不同客戶的需求。
光或電探針可以放置在被測設(shè)備周圍的任何朝向（北向、東向、南向和西向），這種靈活性使得客戶能夠根據(jù)自己的需求定制和擴(kuò)展測試。
全面的測試能力：
OPAL-SD單晶片半自動探針臺不僅支持簡單的連通性或隔離性檢查，還支持復(fù)雜的微電路完整功能測試。
該設(shè)備能夠結(jié)合EXFO系列儀表的優(yōu)良光學(xué)測量功能，進(jìn)行光譜分析以及誤碼率等光電測試。
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