產(chǎn)品描述
Hioki 3522-50 是一款 高速、高精度、寬頻帶 的 LCR 測試儀，專為電子元件（如電感、電容、電阻）的阻抗測量設(shè)計(jì)。其核心優(yōu)勢在于 5ms 高速測量 和 DC 至 100kHz 寬頻帶覆蓋，支持 14 種參數(shù)測量（如阻抗 |Z|、相位角 θ、等效串聯(lián)電阻 ESR 等），并具備 DC 電阻測量（DCR） 功能。設(shè)備采用 全 5 位高分辨率顯示，基本精度達(dá) ±0.08%，適用于實(shí)驗(yàn)室研發(fā)、生產(chǎn)線自動化測試及元器件評估場景。其簡潔的觸摸屏操作界面和 30 組測量條件存儲功能，顯著提升了測試效率與重復(fù)性。
主要特點(diǎn)
寬頻測量范圍
頻率范圍：DC 至 100kHz，覆蓋低頻到高頻的多元測試需求。
高速采樣與測量
最快測量時(shí)間：5ms（|Z| 顯示時(shí)），支持生產(chǎn)線高速測試。
四種采樣率可選：FAST/NORMAL/SLOW/SLOW2，靈活適配不同場景。
高精度與多參數(shù)測量
基本精度：|Z| ±0.08% rdg.，θ ±0.05°，確保數(shù)據(jù)可靠性。
支持 14 種參數(shù)測量：包括 |Z|、|Y|、θ、Rp(DCR)、Rs(ESR)、G、X、B、Cp、Cs、Lp、Ls、D(tanδ)、Q。
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