*的LED模式，可供LED driver測(cè)試 可編程的LED操作點(diǎn)阻抗(Rd) 可編程的內(nèi)部阻抗(Rr)，可應(yīng)用于模擬LED的漣波電流 快速響應(yīng)，可供PWM調(diào)光測(cè)試 一機(jī)框zui多可達(dá)8個(gè)通道 二段式16位高精密電壓/電流量測(cè)線路 保護(hù)功能：過(guò)電壓、過(guò)電流、過(guò)功率、過(guò)溫度保護(hù)LED driver為電流源，因此有一可輸出的電壓范圍及一固定的輸出電流。在LED driver的測(cè)試上，一般常使用的方式有下列幾種： 使用真實(shí)電阻當(dāng)負(fù)載。 使用傳統(tǒng)電子負(fù)載操作于定電阻(CR)模式或定電壓(CV)模式?！ ∈褂谜鎸?shí)LED串聯(lián)當(dāng)負(fù)載。/OL> 但是這些測(cè)試方式都有其缺點(diǎn)，無(wú)法*適合LED driver的測(cè)試需求?！ ∮蒐ED的V-I特性曲線中，可知LED有一順向偏壓VF及一導(dǎo)通電阻(Rd)。當(dāng)以真實(shí)電阻為負(fù)載，其V-I特型是一直線，并無(wú)法模擬LED的特性。尤其當(dāng)LED driver開(kāi)機(jī)電壓上升時(shí)，電流波形不同，可能會(huì)無(wú)法開(kāi)機(jī)。而傳統(tǒng)電子負(fù)載的CR及CV模式，都是以穩(wěn)態(tài)時(shí)的LED操作點(diǎn)為設(shè)定值，對(duì)開(kāi)關(guān)機(jī)或PWM調(diào)光動(dòng)態(tài)的特性，無(wú)法模擬，也可能導(dǎo)致LED driver產(chǎn)生不正常的動(dòng)作或保護(hù)。而若以LED來(lái)當(dāng)負(fù)載，雖能*測(cè)試LED driver。但卻有LED老化問(wèn)題，及LED driver不同的輸出電壓測(cè)試上，需串聯(lián)不同顆數(shù)的LED，如此將會(huì)造成測(cè)試上與生產(chǎn)上的不便。
化工儀器網(wǎng)