安捷倫科技85070E安捷倫/惠普85070E介電探針試劑盒200 MHz到50 GHz安捷倫科技85070E介電探針試劑盒確定介電性能,或復介電常數(shù),許多材料。由于材料的介電性能是由其分子結(jié)構(gòu)決定的,如果分子結(jié)構(gòu)發(fā)生變化,那么將介電性能。測量它們可以間接測量的其他屬性,也相關(guān)的分子結(jié)構(gòu),并可以是一個有價值的選擇時,感興趣的屬性是難以直接測量。測量是通過簡單浸泡液體或半固體的探討-沒有特殊的設(shè)備或容器的要求了。測量是非破壞性的,可以實時。這些重要的功能允許在過程分析中使用的介電探針試劑盒
- 其它儀器
-
電壓計 耐壓測試儀 應用模塊 功率分配器 恒電位儀 / 恒電流儀 射頻頻率計數(shù)器 超級兆歐表 EMI測試接收機 模塊 信號質(zhì)量分析儀模塊 靜電計 光發(fā)射機 偏振綜合儀 多通道系統(tǒng) 光波測試系統(tǒng) 光功率傳感器模塊 短距離接收器模塊 穩(wěn)壓電源 高速點膠機 光學熱臺 高低溫試驗箱 超高溫熱臺 地質(zhì)冷熱臺 氣相色譜儀 雙連接閂鎖套件 幀控制器 熔接機 音頻分析儀 雙激光軸板 光電時鐘恢復 光電時鐘恢復模塊 TDA系統(tǒng) 衰減器 可編程曲線跟蹤器 數(shù)字萬用表 光衰減器 電模塊 光模塊 光纖熔接機 其它 校準源 半導體與晶體管測試 噪聲與干擾 半導體參數(shù)分析儀 協(xié)議分析儀
- Agilent/安捷倫
- 其他品牌
- KEYSIGHT/美國是德
- TeKtronix/美國泰克
- Santec/日本
- R&S/羅德與施瓦茨
- EXFO/加拿大
- 泰克
- FLUKE/福祿克
- YOKOGAWA/日本橫河
- Keithley/美國吉時利
- Anritsu/安立
- SRS/斯坦福
- ADCMT/愛德萬
- 美國力科
- HIOKI/日本日置
- FUJIKURA/藤倉
- OLYMPUS/奧林巴斯
- KIKUSUI/日本菊水
- BCHP/中惠普
- Newport/美國
- SHIMADZU/島津
- Ceyear/思儀
- ITECH/艾德克斯
- 古河蓄電池
- RIGOL/普源
- Bruker/布魯克
- GWINSTEK/中國臺灣固緯
- HP/惠普
- SIGLENT/鼎陽
- XINGZHOU/興洲
- HACH/哈希
- Bristol/美國
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國臺灣儀鼎
- UNI-T/優(yōu)利德
- BIRD/美國鳥牌
- SPIRENT/思博倫
- Chroma/致茂
- Mettler Toledo/梅特勒托利多
- OMRON/歐姆龍
- SPECTRUM/上海光譜
- TIMEPOWER/時代新維
- 智云達
- Ophir
- 中國臺灣博計
- EEC/中國臺灣華儀
- Siemens/西門子
- AP(Audio Precision)/美國
- 同惠電子
- HAMEG/德國惠美
- Nikon/日本尼康
- Hitachi/日立
- TDK-LAMBDA/日本
- OceanOptics/海洋光學
- KEYENCE/基恩士
- LitePoint/萊特波特
- 常州安柏