“小貝開講“之高分辨的粒度表征技術
時間:2020年4月10日 15:30 - 16:00
內(nèi)容簡介:
很多時候顆粒粒度對產(chǎn)品的質(zhì)量、有效、穩(wěn)定起著至關重要的影響。如何進行精準的表征,實現(xiàn)高分辨率的檢測,發(fā)現(xiàn)細微差異對相關科學研究與產(chǎn)品質(zhì)量控制有著巨大的現(xiàn)實意義。高分辨率的粒度表征技術,將有助于您發(fā)現(xiàn)未曾發(fā)現(xiàn)的,了解更加真實的粒度信息。
主講人簡介:
張強,貝克曼庫爾特粒度表征與顆粒計數(shù)高級產(chǎn)品專家,主要從事粒度表征和顆粒計數(shù)的技術支持,深耕應用方案的開發(fā),熟悉市場環(huán)境,開發(fā)多個行業(yè)解決方案。