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【小貝開講】粒度表征常用方法、優(yōu)缺點(diǎn)及高分辨粒度表征的重要性

時(shí)間:2021-3-23 閱讀:4616
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課程主題:【小貝開講】粒度表征常用方法、優(yōu)缺點(diǎn)及高分辨粒度表征的重要性

 

課程時(shí)間:2021-4-9 14:00

 

課程簡(jiǎn)介:

隨著科技的發(fā)展,關(guān)于顆粒粒度的表征方法已從初簡(jiǎn)單的篩分,發(fā)展到各種原理的檢測(cè)方法,包括靜態(tài)激光衍射法、動(dòng)態(tài)激光散射法、離心沉降法、光阻法、電阻感應(yīng)法、拍照?qǐng)D像法等,這些方法各有優(yōu)缺點(diǎn)和適用性,對(duì)這些方法的了解有助于我們使用合適的工具對(duì)我們的產(chǎn)品或中間產(chǎn)物或原料進(jìn)行有效的研究和質(zhì)控。 高分辨的粒度表征技術(shù)是科學(xué)與產(chǎn)品不斷發(fā)展的必然要求。因?yàn)檠邪l(fā)人員需要依靠粒度數(shù)據(jù)做出決策,QC需要及時(shí)發(fā)現(xiàn)批次間細(xì)微的差異。只有高分辨粒度表征技術(shù),才能幫助客戶發(fā)現(xiàn)關(guān)鍵細(xì)節(jié),實(shí)現(xiàn)精|準(zhǔn)表征,獲得更加真實(shí)的粒度信息。然而,當(dāng)前很多時(shí)候我們都是第|一時(shí)間使用激光粒度儀,而這其中有時(shí)會(huì)面臨著測(cè)試結(jié)果遺漏了關(guān)鍵細(xì)節(jié)的風(fēng)險(xiǎn)。 此次研討會(huì)將對(duì)以上內(nèi)容一一向您做介紹。

 

姚金龍  貝克曼庫爾特生命科學(xué)

研究生畢業(yè)后先后在中科院上海有機(jī)所,上海高等研究院和某著名顆粒分析廠家工作,2019年正式加入貝克曼庫爾特公司。在激光粒度儀,納米粒度和Zeta電位分析儀、顆粒圖像分析儀、納米可視追蹤分析儀和粉體顆粒流變儀等具有5-10年的操作應(yīng)用經(jīng)驗(yàn),負(fù)責(zé)全|國(guó)粒度相關(guān)產(chǎn)品售前、售后應(yīng)用技術(shù)支持。

 

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