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在你心中,單波長(zhǎng)X熒光硅分析儀是什么樣的

閱讀:636      發(fā)布時(shí)間:2021-5-27
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   單波長(zhǎng)X熒光硅分析儀由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。
  本產(chǎn)品根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,也可以獲得各元素的含量信息。近年來,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得很廣泛。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。
  單波長(zhǎng)X熒光硅分析儀是由低功率X射線管發(fā)射出的多波長(zhǎng)X熒光,經(jīng)個(gè)雙曲面彎晶光學(xué)元件捕獲聚焦,并將具有合適波長(zhǎng)可以激發(fā)硅元素K層電子的單色X射線照射在裝入樣品盒中的被測(cè)樣品上形成小光斑。
  單色初級(jí)束流激發(fā)樣品并發(fā)射次級(jí)特性熒光X射線,通過第二個(gè)雙曲面彎晶光學(xué)元件僅收集由硅元素激發(fā)出的波長(zhǎng)為0.713nm的KαX射線熒光,并被一合適的探測(cè)器測(cè)量,然后用校準(zhǔn)方程將其轉(zhuǎn)換成被測(cè)樣品中的硅含量。
  單波長(zhǎng)X熒光硅分析儀適用于檢測(cè)汽油、柴油中的硅含量,無需復(fù)雜的預(yù)處理過程,可直接進(jìn)樣檢測(cè),本產(chǎn)品可為石化企業(yè)提供準(zhǔn)確和可靠的分析結(jié)果。

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