TIME1130手持式超聲波探傷儀
【簡(jiǎn)單介紹】
品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
儀器種類 | 數(shù)字式 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,建材,綜合 |
【詳細(xì)說明】
TIME1130手持式超聲波探傷儀相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):
本儀器涉及到的超聲波探傷國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)有:
-GB/T 12604.1-2005 無損檢測(cè) 術(shù)語(yǔ) 超聲檢測(cè)
-JB/T 10061-1999 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件
-JJG 746-2004 超聲探傷儀檢定規(guī)程
-GB/T 11345-1989鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)
-JB/T 4730.3-2005 承壓設(shè)備無損檢測(cè) 第3部分:超聲檢測(cè)
-JG/T 203-2007鋼結(jié)構(gòu)超聲波探傷及質(zhì)量分級(jí)法,代替JG/T 3034-1996
-SY/T 4109-2005 石油天然氣鋼制管道無損檢測(cè),代替SY/T 0443-1998,SY/T 0444-1998,SY/T 4056-1993,SY/T 4065-1993
TIME1130手持式超聲波探傷儀功能特點(diǎn):
- 開發(fā)的、采用國(guó)內(nèi)業(yè)界的可調(diào)方波激勵(lì)技術(shù),內(nèi)置帶有可調(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波脈沖發(fā)生器",實(shí)現(xiàn)與探頭的匹配,對(duì)檢測(cè)高衰減材料或厚工件具有好的穿透力和信噪比;而對(duì)檢測(cè)薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。
- 電路設(shè)計(jì),采用12bits 80MHz采樣片,配合5.7"TFT (640x480)高分辨率彩色液晶顯示屏,確保能快速、準(zhǔn)確地對(duì)缺陷的回波信號(hào)進(jìn)行顯示和分析,對(duì)各種弱小信號(hào)的變化和細(xì)節(jié)都能及時(shí)響應(yīng),回波信號(hào)的實(shí)時(shí)性和真實(shí)性得到有效的保證,對(duì)缺陷性質(zhì)的分析和判斷極為有利。(下圖為全波顯示和射頻顯示)
- 支持動(dòng)態(tài)錄像功能,可記錄4個(gè)動(dòng)態(tài)記錄文件,每個(gè)文件可以以16幀/秒的速度記錄2分鐘實(shí)時(shí)波形??赏饨覷盤存貯到4個(gè)文件,每個(gè)文件半個(gè)小時(shí),通道保存、通道存儲(chǔ)菜單化操作,大大方便數(shù)據(jù)的分析存儲(chǔ)(見下圖)。
- 支持灰度B掃功能,可顯示截面灰度B掃描,一個(gè)屏幕顯示豐富信息量,可用于簡(jiǎn)單TOFD應(yīng)用。(下圖為灰度B掃功能顯示圖)
- 豐富的波形凍結(jié)功能,波形凍結(jié)功能包括峰值顯示、波形比較、波形包絡(luò)等功能,還具有定時(shí)釋放能力,大大方便用戶操作。
- 機(jī)器嚴(yán)格符合歐標(biāo)En12668-1的標(biāo)準(zhǔn)要求。
- 內(nèi)置國(guó)內(nèi)主要4個(gè)探傷標(biāo)準(zhǔn),可直接通過選取標(biāo)準(zhǔn)、試塊、探傷等級(jí)自動(dòng)設(shè)置DAC曲線的三線偏移量,內(nèi)帶“美國(guó)鋼結(jié)構(gòu)焊接規(guī)范焊縫分級(jí)AWS D1.1"評(píng)定標(biāo)準(zhǔn),使檢測(cè)更加得心應(yīng)手,方便現(xiàn)場(chǎng)使用。(下圖為DAC曲線圖)
探傷功能
波峰記憶:實(shí)時(shí)檢索缺陷高波,標(biāo)定缺陷大值
實(shí)用AVG:實(shí)用AVG曲線、自動(dòng)換算缺陷φ值(X>3N,N為近場(chǎng)距離)
動(dòng)態(tài)記錄:檢測(cè)實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄波形,存儲(chǔ)、回放
缺陷定位:實(shí)顯水平值P、深度值D、聲程值S
缺陷定量:實(shí)顯SL定量值(DAC曲線實(shí)時(shí)定量)
缺陷定性:通過包絡(luò)波形,人工經(jīng)驗(yàn)判斷
曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算
灰度B掃描:實(shí)時(shí)掃查,描述缺陷橫切面
TIME1130技術(shù)參數(shù):
基本 | |
測(cè)量單位 | mm、inch、ms |
掃描范圍(mm) | 零界面入射~10000 |
聲速調(diào)節(jié)(m/s) | 600~16000 |
探頭延遲(μs) | -1.000~750.000 |
顯示延遲(μs) | -20~+3400 |
工作方式 | 單探頭、雙探頭、透射 |
波形顯示方式 | A掃描顯示、灰度B掃描顯示、AB掃描同時(shí)顯示 |
脈沖發(fā)生器 | |
脈沖形式 | 模擬方波 |
發(fā)射電源(V) | 100~400,10V步距可調(diào) |
發(fā)射脈寬(ns) | 75、100~500,50ns步距可調(diào) |
探頭阻尼(Ω) | 50、100、200、500 |
發(fā)射重復(fù)頻率(Hz) | 10~1000 |
接收器 | |
增益(dB) | 0~110 分0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、6.0、12.0可調(diào) |
總帶寬(MHz) | 0.5~20 |
檢波方式 | 正半波、負(fù)半波、全波、射頻 |
垂直線性誤差 | ±2% |
放大器精度(dB) | ±1 |
抑制(%) | 屏高的0~80 |
采樣速率(MHz) | 單片80 12bits |
發(fā)射串?dāng)_抑制(dB) | ≥80 |
動(dòng)態(tài)范圍(dB) | ≥40 |
瞬時(shí)分辨力(dB) | ≥32 |
水平線性誤差 | ≤0.1% |
靈敏度余量 | ≥62dB |
測(cè)量 | |
測(cè)量閘門 | 2個(gè)獨(dú)立測(cè)量閘門 |
檢測(cè)方式 | 邊沿、峰值 |
閘門測(cè)量 | 回波的幅值、聲程、深度、投影等 |
凍結(jié) | 凍結(jié)方式有:全凍結(jié)、峰值、比較、包絡(luò)等方式 |
AVG當(dāng)量計(jì)算 | 根據(jù)缺陷回波和AVG曲線自動(dòng)計(jì)算缺陷當(dāng)量評(píng)估 |
DAC缺陷定量 | 根據(jù)缺陷回波和DAC 曲線對(duì)缺陷進(jìn)行評(píng)估 |
閘門邏輯 | 關(guān)、測(cè)量、進(jìn)波提醒、失波提醒 |
閘門提醒 | 關(guān)、即時(shí)、保持.2s、保持.5s、保持1s、保持2s、鎖存 |
提醒蜂鳴 | 關(guān)、開 |
數(shù)據(jù)管理,通信及打印 | |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 50個(gè)探傷參數(shù)通道記錄 |
1000幅波形圖 | |
(包括980幅A掃描波形和20幅B掃描波形) | |
4x2000幀的動(dòng)態(tài)波形 | |
數(shù)據(jù)管理 | 實(shí)現(xiàn)對(duì)通道、波形、動(dòng)態(tài)記錄的存儲(chǔ)、查看、回放操作 |
上述均可存儲(chǔ)到本地或U盤 | |
通信 | 通過USB接口與PC機(jī)通信 |
輸出接口 | |
USB OTG接口 | USB2.0 Device 與PC機(jī)通訊接口 |
USB2.0 Host 接U盤 | |
其它 | |
產(chǎn)品重量(kg) | 約1.6 |
產(chǎn)品外型尺寸(mm) | 300×180×58(不帶遮光罩) |
工作溫度(℃) | -10~+50 |
存儲(chǔ)溫度(℃) | -20~+60 |
語(yǔ)言 | 英語(yǔ)、中文 |
探頭連接 | LEMO 或BNC |
電池容量(mAh) | 聚合物電池2×3.7V 5000mAh |
電池工作時(shí)間(h) | 不低于8 |
充電時(shí)間(h) | 不超過8 |
電源適配器 | 輸入100-240~50/60Hz |
輸出9V DC/3 A~4A |
以上參數(shù)僅供參考,實(shí)際以出廠說明書為準(zhǔn)!
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