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新品---薄膜熱物性測試儀
閱讀：2069 發(fā)布時間：2012-6-12
新品---薄膜熱物性測試儀
該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當物體很薄時，同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態(tài)下進行。根據(jù)物體表面溫度按余弦（或正弦）規(guī)律變化時的瞬態(tài)實驗模型。采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數(shù)，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態(tài)下，當溫度振蕩頻率達到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導溫系數(shù)或導熱系數(shù)。儀器于研究薄膜材料熱物性特性。
主要技術參數(shù)：
1．導熱系數(shù)范圍：0.05～20w/m·k
2．儀器實現(xiàn)數(shù)字化測溫，精度優(yōu)于0.2級。
3．測量結果，準確度 ±3%
4．計量加熱功率可調節(jié)±1%。
5.樣尺寸要求：圓柱體￠15--30*5--30mm .
6.溫度和保護氣氛按用戶要求定制。
7.配接計算機實現(xiàn)全自動測試分析。