BISS小負(fù)載單軸測(cè)試系統(tǒng)為精密位移控制和負(fù)載測(cè)量提供應(yīng)用測(cè)試解決方案。通用設(shè)計(jì)密位移控制和負(fù)載測(cè)量提供應(yīng)用測(cè)試解決方案。通用設(shè)計(jì)能靈活測(cè)試材料，電子元件和組織工程應(yīng)用。緊湊的臺(tái)上結(jié)構(gòu)提供了靈活性和模塊化的測(cè)試配置，從而簡(jiǎn)化了測(cè)試操作，并提供的測(cè)試能力。

BISS小負(fù)載單軸測(cè)試系統(tǒng)為精密位移控制和負(fù)載測(cè)量提供應(yīng)用測(cè)試解決方案。通用設(shè)計(jì)能靈活測(cè)試材料，電子元件和組織工程應(yīng)用。緊湊的臺(tái)上結(jié)構(gòu)提供了靈活性和模塊化的測(cè)試配置，從而簡(jiǎn)化了測(cè)試操作，并提供的測(cè)試能力。

應(yīng)用：

∴金屬，塑料，復(fù)合材料，生物材料

∴微型樣品測(cè)試

∴緊張，壓縮和疲勞

∴組織工程

∴