SICK線性編碼器采用非接觸式的磁性檢測(cè)原理來(lái)進(jìn)行線性位置測(cè)量，同光電式檢測(cè)方式相比，磁性檢測(cè)原理不受周圍環(huán)境油污、灰塵等的影響，能適應(yīng)全天候工作。
SICK Pomux® KH53 線性編碼器
SICK非接觸式長(zhǎng)度測(cè)量，堅(jiān)固耐用、免維護(hù) ; 高度可重復(fù)性（0.3米/1米），高分辨率（0.1毫米） ; SSI和PROFIBUS接口 ; 位置測(cè)定 ; 長(zhǎng)度測(cè)量范圍可達(dá)1700米 ; 可在惡劣的環(huán)境下使用 ; zui高運(yùn)動(dòng)速度可達(dá)6.6米/秒 ; 閱讀器和感應(yīng)標(biāo)尺的間距冗余可達(dá)55毫米± 20毫米 ;
- 非接觸式長(zhǎng)度測(cè)量，堅(jiān)固耐用、免維護(hù)
- 高度可重復(fù)性（0.3米/1米），高分辨率（0.1毫米）
- SSI和PROFIBUS接口
- 位置測(cè)定
- 長(zhǎng)度測(cè)量范圍可達(dá)1700米
- 可在惡劣的環(huán)境下使用
- zui高運(yùn)動(dòng)速度可達(dá)6.6米/秒
- 閱讀器和感應(yīng)標(biāo)尺的間距冗余可達(dá)55毫米± 20毫米
SICK KH53線性編碼器：
- zui大測(cè)量長(zhǎng)度：1,700m
- 無(wú)磨損的非接觸檢測(cè)方式
- 無(wú)需參考點(diǎn)的的位置測(cè)量
- 多種電氣接口可選
- 位置的取樣時(shí)間和測(cè)量長(zhǎng)度沒(méi)有關(guān)系
- IP66的高外殼防護(hù)等級(jí)
SICK KH53線性編碼器技術(shù)規(guī)格：
- 測(cè)量范圍（m）：KH53標(biāo)準(zhǔn)型: 38,107,354,,1,700m,
- KH53增強(qiáng)型: 54, 548m
- 分辨率（mm）：0.1mm
- 重復(fù)精度（um）：300um
- 接口：SSI, RS 422, Profibus
- 電源電壓（V）： DC 10...32
- 工作環(huán)境溫度：-20 °C...+60 °C(KH53標(biāo)準(zhǔn)型), -30 °C...+70 °C(KH53增強(qiáng)型),
- 連接類型：電纜或圓形車削螺紋系統(tǒng)
- 防護(hù)等級(jí)：IP 65 / IP 66
- 掃描間隔(ms )：SSI: 0.8；RS 422: 0.9；Profibus: 1.1
SICK LinCoder® L230 線性編碼器
非接觸式長(zhǎng)度測(cè)量 ; 無(wú)磨損、免維護(hù) ; 測(cè)定位置 ; 可測(cè)量長(zhǎng)度達(dá)40米 ; 高精度和高分辨率 ; 運(yùn)動(dòng)速度可達(dá)6米/秒 ;
- 非接觸式長(zhǎng)度測(cè)量
- 無(wú)磨損、免維護(hù)
- 測(cè)定位置
- 可測(cè)量長(zhǎng)度達(dá)40米
- 高精度和高分辨率
- 運(yùn)動(dòng)速度可達(dá)6米/秒
- zui大測(cè)量長(zhǎng)度：40m
- 無(wú)磨損的非接觸檢測(cè)方式
- 無(wú)需參考點(diǎn)的的位置測(cè)量
- 多種電氣接口可選
- 位置的取樣時(shí)間和測(cè)量長(zhǎng)度沒(méi)有關(guān)系
- IP66的高外殼防護(hù)等級(jí)
技術(shù)數(shù)據(jù)
- 測(cè)量范圍（m）：40m
- 磁帶的長(zhǎng)度: 測(cè)量長(zhǎng)度+130mm
- 分辨率（um）：1um
- 重復(fù)精度（um）：±10um
- 接口：SSI, HIPERFACE®
- 電源電壓（V）：SSI: DC 10...32, HIPERFACE®: DC7-12V
- 工作環(huán)境溫度：SSI: 0 °C...+70 °C, HIPERFACE®: 0 °C...+60 °C
- 連接類型：M23插頭
- 防護(hù)等級(jí)：IP65
- zui大運(yùn)行速度(m/s): 6m/s
