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上海奧析科學(xué)儀器有限公司

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紫外可見分光光度計(jì)測試散光的原因

閱讀:2920      發(fā)布時(shí)間:2018-4-19
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        紫外可見分光光度計(jì)的使用越來越廣泛,但是目前有些紫外可見分光光度計(jì)的生產(chǎn)廠商只測試220nm處的雜散光不測試340nm處的雜散光,這是不對(duì)的。
  紫外可見分光光度計(jì)雜散光的測試材料可分為濾光片和濾光液兩種。濾光片又分為帶通濾光片和截止濾光片兩種。濾光液則有很多種,如丙酮、Nal、NaBr、KCI (12g/l)、NaN02等。測試220nm處雜散光的理由是:*,根據(jù)量子光學(xué)理論,波長是能量的倒數(shù),波長短能量大,容易產(chǎn)生雜散光,而220nm處屬于短波部分;第二,根據(jù)儀器學(xué)理論中的電光源理論,氘燈在220nm處能量很小,  即信號(hào)很小,容易顯現(xiàn)雜散光;第三,根據(jù)儀器學(xué)理論中的光電發(fā)射理論,光電倍增管在220nm處的光譜響應(yīng)(靈敏度)低,容易顯現(xiàn)雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的,  因?yàn)?40nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調(diào)換濾光片的地方,此時(shí)zui容易產(chǎn)生雜散光。所以,對(duì)于紫外可見分光光度計(jì)來講,應(yīng)該測試220nm和340nm兩處的雜散光。

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