高精度0.1微米自動薄膜測厚儀 返回列表頁

高精度自動薄膜測厚儀CHY-U 0.1微米測厚儀*

規(guī)格：CHY-U

關(guān)鍵字：薄膜測厚儀,自動測厚儀,0.1微米測厚儀,高精度測厚儀,厚度測量儀

品牌：sumspring三泉中石

在工業(yè)生產(chǎn)和生活應(yīng)用中，薄膜的厚度是一項非常重要的參數(shù)，因為它直接關(guān)系到薄膜材料能否正常工作，尤其是一些微電子薄膜，光學(xué)薄膜，抗氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導(dǎo)薄膜等。除此之外，薄膜材料的力學(xué)性能，透光性能，磁性能，熱導(dǎo)率，表面結(jié)構(gòu)等都與厚度密不可分。                   

濟南三泉中石生產(chǎn)的CHY-U高精度自動薄膜測厚儀適用于2mm范圍內(nèi)各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度的測量。該儀器精度高，誤差小，操作簡單方便，同時配備微型打印機，方便查看和打印數(shù)據(jù)結(jié)果。

技術(shù)特征 

1.配備微型打印機，數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印，方便快捷地獲取測試結(jié)果 ；

2.打印數(shù)值及每次測量結(jié)果，方便用戶分析數(shù)據(jù) ；

3.儀器自動保存達(dá)100組測試結(jié)果，隨時查看并打印 ；

4.標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備 ；

5.配備自動進(jìn)樣器，可一鍵實現(xiàn)全自動多點測量，誤差小 ；

6.提供測試結(jié)果圖形統(tǒng)計分析，準(zhǔn)確直觀地將測試結(jié)果展示給用戶； 

7.配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸。

技術(shù)參數(shù)               

測量范圍 ：0-2mm （其他量程可定制）               

分辨率 ：0.1um               

測量速度 ： 10次/min（可調(diào)）               

測量壓力 ：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）               

接觸面積 ：50mm²（薄膜），200mm²（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種               

進(jìn)樣步矩 ： 0 ～ 1300 mm(可調(diào))               

進(jìn)樣速度 ： 0 ～ 120 mm/s(可調(diào))               

機器尺寸： 450mm×340mm×390mm (長寬高)               

重    量： 23Kg               

工作溫度：15℃-50℃                    

試驗環(huán)境：無震動，無電磁干擾               

工作電源：220V 50Hz

參照標(biāo)準(zhǔn)

GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、

ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、

JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817