各相關(guān)單位：

隨著電子電器產(chǎn)品的體積與重量日益縮小，技術(shù)含量不斷擴大、智能化程度成倍提高，對電子電器產(chǎn)品可靠性的要求已成為衡量產(chǎn)品質(zhì)量zui重要的技術(shù)指標(biāo)之一。可靠性不僅在國防、航天、航空等技術(shù)領(lǐng)域倍受關(guān)注，在工業(yè)、民用電子等領(lǐng)域也同樣得到重視。

為進一步加強各企事業(yè)單位相關(guān)人員針對產(chǎn)品可靠性方面的技術(shù)能力及國家標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用理解，解決各企事業(yè)單位沒有相關(guān)檢驗人員或者檢驗人員沒有經(jīng)過正式培訓(xùn)并持證上崗的現(xiàn)狀，實現(xiàn)國家對相關(guān)技能人員必須持證上崗的要求。我中心定于2016年7月份在上海舉辦“電子電氣產(chǎn)品可靠性設(shè)計、試驗及分析技術(shù)與國家標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用”培訓(xùn)班。學(xué)習(xí)結(jié)束后，統(tǒng)一考核，考核合格者頒發(fā)《可靠性實用工程》資格證書。具體安排如下:

一、培訓(xùn)內(nèi)容

1、可靠性設(shè)計的基本概念和運用

A、可靠性設(shè)計的思路  B、降額設(shè)計  C、簡化設(shè)計  D、儲備（冗余）設(shè)計

E、容差設(shè)計  F、可靠性預(yù)計  G、可靠性增長（RGT）

2、可靠性設(shè)計的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和實施步驟 

3、元器件的故障模式、影響及采用的對策

A、電子產(chǎn)品常見的失效        B、無源器件常見失效原因、壽命計算

C、電子器件常見失效原因、壽命評價方法  D、機電元件常見失效原因和對策

E、集成電路的主要故障特點及對策  F、可編程器件的程序設(shè)計對可靠性的影響G、靜電和閂鎖對電子產(chǎn)品的破壞和預(yù)防設(shè)計

4、整機設(shè)計規(guī)則

A、熱設(shè)計（溫度對電子設(shè)備可靠性的影響、電子設(shè)備熱的來源、熱設(shè)計的目的、熱設(shè)計的程序、熱設(shè)計中元器件布局案例、熱設(shè)計中元器件的安裝原則、鼓風(fēng)機的選擇與安裝、冷卻劑流道設(shè)計、熱設(shè)計的改善方法及案例）    B、版圖設(shè)計 

C、接地和抗干擾  D、三防和防塵設(shè)計    E、結(jié)構(gòu)和防振設(shè)計F、安全性設(shè)計

5、裝配、生產(chǎn)工藝對產(chǎn)品可靠性的影響

A、焊接、靜電防護、生產(chǎn)工序、PCB制備、離子污染、應(yīng)力釋放對產(chǎn)品可靠性的影響。

6、設(shè)計人員需要了解的可靠性知識

A、可靠性基本知識           B、可靠性的發(fā)展方向

C、如何運用可靠性的特征量   D、如何看MTBF、及實驗分類

7、可靠性設(shè)計的評價

A、可靠性預(yù)計現(xiàn)狀、評價，新的評價思路，可靠性增長試驗

8、可靠性鑒定試驗、驗收試驗與型式試驗

9、加速壽命試驗

A、壽命試驗的分類     B、壽命MTBF測試規(guī)范與解析 C、壽命試驗的測試點    D、壽命試驗的數(shù)據(jù)處理E、加速壽命試驗的理論依據(jù)   F、加速應(yīng)力的選擇    G、樣品數(shù)量的選擇      H、激活能的計算             I、雙應(yīng)力加速實驗法  

 J、整機產(chǎn)品的加速壽命試驗

10、環(huán)境試驗（GB2421、GB2422、GB2423、GB2424系列標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用）

A、環(huán)境試驗對產(chǎn)品缺陷暴露的作用    B、失效機理和環(huán)境的影響

C、如何設(shè)計試驗條件 D、環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)和試驗步驟E、環(huán)境試驗的順序與分組F、環(huán)境應(yīng)力對產(chǎn)品的影響（溫度應(yīng)力對產(chǎn)品的影響、濕度對產(chǎn)品的影響、機械沖擊和振動對產(chǎn)品的影響）D、環(huán)境試驗內(nèi)容（高溫試驗的試驗技術(shù)、低溫試驗、溫度變化試驗、濕熱試驗、機械振動、大氣腐蝕試驗、其他試驗、綜合試驗）

E、如何制定環(huán)境試驗方法（有具體標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境試驗、無具體標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境試驗方法、針對失效機理的試驗方法）F、環(huán)境試驗對產(chǎn)品缺陷暴露的作用）

11、篩選、老化試驗

A、篩選的作用和篩選度 B、篩選應(yīng)力的選擇 C、如何快速暴露產(chǎn)品缺陷（HALT）D、高加速應(yīng)力篩選（HASS）介紹   E、環(huán)境應(yīng)力篩選試驗（三防、鹽霧等試驗、老化、環(huán)境及可靠性試驗）（ESS）霉菌試驗  F、環(huán)境試驗的順序與分組

12、可靠性增長試驗

A、可靠性增長試驗介紹目的    B、可靠性增長試驗的特點和方法

C、理想可靠性增長開展的時機

13、電子元器件失效率鑒定試驗

A、失效率試驗的目的與分類    B、失效率鑒定試驗的一般要求

C、失效率鑒定試驗的程序      D、失效率鑒定試驗抽樣方案

14、可靠性試驗數(shù)據(jù)的分析與處理

A、數(shù)據(jù)整理的基本方法        B、可靠性數(shù)據(jù)的概率紙分析方法

C、指數(shù)分布壽命試驗數(shù)據(jù)處理方法  D、失效分析   E、失效信息及處理

15、可靠性評價方法

A、可靠性評價方法標(biāo)準(zhǔn)        B、可靠性評價的意義和目的

C、可靠性設(shè)計的評價內(nèi)容     D、可靠性評價的方法

E、可靠性分配和可靠性預(yù)計   F、可靠性預(yù)計的現(xiàn)狀與新的評價思路)

二、培訓(xùn)鑒定對象

1、各企事業(yè)單位從事電子電器相關(guān)的工作人員（電子電氣檢測實驗室工作人員、      產(chǎn)品研發(fā)、技術(shù)、品質(zhì)管理、安全監(jiān)督、可靠性設(shè)計、質(zhì)量檢驗、測試、采購等）；

2、各大專院校、職業(yè)技術(shù)學(xué)院等電子專業(yè)相關(guān)人員；

3、使用相關(guān)儀器和測試裝置對半導(dǎo)體器件、光電子器件、電真空器件、機電元

件、通用元件及特種元件進行質(zhì)量檢驗的人員。

三、培訓(xùn)鑒定時間

2016年7月28日-30日      上海（28日全天報到）

四、證書頒發(fā)

考試合格者，由工業(yè)和信息化部電子行業(yè)職業(yè)技能鑒定指導(dǎo)中心統(tǒng)一頒發(fā)《可靠性實用工程》資格證書。該證書是從事可靠性工作人員專業(yè)技能水平的資格憑證，是用人單位錄用、使用和確定工資待遇的依據(jù)，是我國公民境外就業(yè)，勞務(wù)輸出法律公證的有效證件。

五、培訓(xùn)鑒定費用

考試培訓(xùn)費用：2800元/人；（含培訓(xùn)場地、師資、專業(yè)理論、操作技能培訓(xùn)費、教材資料費、理論考核費、操作技能鑒定費、證書費等）。

六、報名須知

請參加培訓(xùn)的學(xué)員認真填寫報名回執(zhí)表，以、傳真及郵件的方式反饋至我中心。此次培訓(xùn)會務(wù)工作由北京中標(biāo)服檢驗技術(shù)研究院有限公司具體承辦。

工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院

                                       培訓(xùn)中心

                                     2016年6月26日