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上海物光顯微熔點(diǎn)儀SGW® X-4B

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更新時(shí)間：2017-08-25 09:48:34瀏覽次數(shù)：449

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產(chǎn)品簡介

上海物光顯微熔點(diǎn)儀SGW® X-4B測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。

詳細(xì)介紹

上海物光顯微熔點(diǎn)儀SGW® X-4B應(yīng)用范圍

 

測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。

 

 上海物光顯微熔點(diǎn)儀SGW® X-4B產(chǎn)品簡介

 

性能指標(biāo)

 

熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃

 

測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）

            ±2℃（在200～300℃時(shí)）

 

X-4

X-4A

X-4B

溫度顯示zui小值

1℃

0.1℃

0.1℃

熔點(diǎn)觀察方式

單目顯微鏡

單目顯微鏡

雙目體視顯微鏡

光學(xué)放大倍數(shù)

40倍

40倍

連續(xù)變倍40倍-100倍

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