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覆層測厚儀如何校準
閱讀：1278 發(fā)布時間：2017-12-15
覆層測厚儀如何校準
覆層測厚儀如何校準？珠海天創(chuàng)儀器公司為大家總結了以下幾點：
(1)實際測量時，應當選用與待測試件基體相同的材料作為校準儀器用的基體。
(2)需注意所選用的基體的表面粗糙度與被測件基體的表面粗糙度盡可能一致。
(3)對基體金屬小厚度要求也是必須注意的測量條件。每一種儀器甚每一種儀器中的每一種探頭都有各自不同的基體金屬的臨界測量厚度。大于這個厚度，測量就不受基體厚度因素的影響。
(4)每一種儀器甚每一種儀器中的每一種探頭對被測件的基體小面積也是有要求的，大于這個面積，測量就不受基體面積因素的影響。
(5)基體表面曲率半徑對測量影響也較大。因為儀器都規(guī)定了小曲率半徑，在實際測量時，為了減少測量誤差，應當選擇與待測試件具有相同曲率半徑的相同材料來作為校準用基體，與校準厚度片一起對儀器進行校準。