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使用超聲波探傷儀如何檢測(cè)缺陷大小
使用超聲波探傷儀如何檢測(cè)缺陷大小
利用某些超聲波探傷儀試塊繪出的距離-波幅-當(dāng)量曲線(即實(shí)用AVG)來(lái)對(duì)缺陷定量是目前常用的定量方法之一。特別是3N以內(nèi)的缺陷,采用試塊比較法仍然是*有效的定量方法。此外還可利用試塊來(lái)測(cè)量材料的聲速、衰減性能等。
餅形鍛件直探頭檢測(cè)方法:
鍛件按其形狀不同可分為軸形鍛件、餅形鍛件、碗形鍛件和筒形鍛件.各種形狀鍛件的鍛造工藝都有不同的特點(diǎn),餅形鍛件的鍛造工藝主要以鐓粗為主,超聲波探傷儀缺陷的分布主要平行于端面,所以用直探頭在任意一個(gè)端面進(jìn)行探測(cè)是檢出這種缺陷的*佳方法,但與端面有較大角度的徑向缺陷則需要采用直探頭從外圓面進(jìn)行檢測(cè)。
餅形鍛件通常采用手工面接接觸法進(jìn)行檢測(cè)。
餅形鍛件缺陷的識(shí)別:
從餅形鍛件的制造工藝來(lái)看,它的缺陷情況與鋼板類似。
(1)點(diǎn)狀單個(gè)小缺陷:缺陷波和底波共存,且底波變化不大。
(2)密集性小缺陷:在一定的面積或體積內(nèi)存在點(diǎn)狀缺陷的個(gè)數(shù),JB/T4730.3—2005對(duì)密集區(qū)的定義是:在熒光屏掃描線相當(dāng)丁50 mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào);或是在50mm×50 mm的檢測(cè)面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范同內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)。其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準(zhǔn)反射波幅。
(3)平行于表面的面狀大缺陷:沒(méi)有底波,只有缺陷的多次反射波。
(4)與表面傾斜的面狀大缺陷:底波將明顯降低,也存在缺陷反射回波