日本SSD靜電測(cè)試儀DP測(cè)試方式

日本SSD靜電測(cè)試儀DP測(cè)試方式

1. 做好測(cè)試前準(zhǔn)備工作：檢測(cè)電池是否帶電；鏈接好接地線；

2. 開(kāi)啟電源開(kāi)關(guān)，按 [ OADJ ]鍵，查看產(chǎn)品歸零情況；

 一、 離子平衡度測(cè)試：I.B模式

3. 產(chǎn)品開(kāi)機(jī)即I.B模式模式燈亮，用測(cè)試板對(duì)準(zhǔn)所需要測(cè)試除靜電產(chǎn)品（標(biāo)準(zhǔn)出廠距離為300mm,實(shí)際應(yīng)用在檢測(cè)效果以距離產(chǎn)品的實(shí)際距離測(cè)試）。

4. 顯示屏數(shù)值顯示為 ﹢/- V數(shù)，即為除靜電設(shè)備的離子平衡度。

二、 ﹢電離子消除時(shí)間測(cè)試： DECAY模式

1. 按SELECT鍵，選擇 DECAY模式，燈亮后按START健，儀器將會(huì)往測(cè)試板上充電（1000V以上）

2. 用儀器對(duì)準(zhǔn)除靜電設(shè)備，顯示屏?xí)@示時(shí)間，這個(gè)時(shí)間為除靜電消除靜電的速度。

（儀器測(cè)試的時(shí)間為1000V降為100V的時(shí)間）

三、 - 電離子消除時(shí)間測(cè)試：- DECAY模式

1.按SELECT鍵，選擇 - DECAY模式，燈亮后按START健，儀器將會(huì)往測(cè)試板上充電（1000V以上）

2.用儀器對(duì)準(zhǔn)除靜電設(shè)備，顯示屏?xí)@示時(shí)間，這個(gè)時(shí)間為除靜電消除靜電的速度。

（儀器測(cè)試的時(shí)間為1000V降為100V的時(shí)間）