LCR電橋數(shù)字電橋阻抗分析儀6367

LCR電橋數(shù)字電橋阻抗分析儀6367 產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

基本精度為0.1%

測(cè)試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz

量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔
具有測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
高速測(cè)量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測(cè)試量程
變壓器參數(shù)測(cè)量(供選用)

LCR電橋數(shù)字電橋阻抗分析儀6367參數(shù)規(guī)格：

測(cè)量功能  

測(cè)量參數(shù) |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR
選件001 增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測(cè)量
測(cè)量電路形式 串聯(lián)和并聯(lián)
數(shù)學(xué)功能 偏差和百分偏差
測(cè)試電纜長(zhǎng)度 0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz)
測(cè)試信號(hào)數(shù)據(jù)  
測(cè)試頻率 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz
選件002 增加20kHz測(cè)試頻率
頻率精度 ±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)
輸出阻抗 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）

交流測(cè)試信號(hào)電平 20mV~1Vrms,以5mVrms分檔
精度 ±（10%+10mV)
內(nèi)部直流偏置  
電平 1.5和2V；精度：±（5%+2mV)
外部直流偏置 0~+2.5V
測(cè)量范圍 參數(shù)
 測(cè)量范圍
|Z|,R,X 1mΩ-100MΩ
|Y|,G,B 10nS-1000S
C 1pF-1F
L 10nH-100kH
D 0.0001-9.9999
Q 0.1-9999.9
θ -180°~+180°
DCR 1mΩ-100MΩ
N 0.9-200（待定）
L,M 1μH-100H（待定）
Δ% -999.99%-+999.99%
測(cè)量精度： ±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL)
測(cè)量時(shí)間  
模式 時(shí)間（典型值）
短 25ms
中等 65ms
長(zhǎng) 500ms
測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視器： 電壓和電流
前端保護(hù)： 當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。大電容器電壓為；在
Vmax≤250V時(shí)，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時(shí)，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。
顯示數(shù)字： 3，4或5位（可選擇）
修正功能：  
開(kāi)路/短路誤差為0： 消除由測(cè)量夾具中雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差
負(fù)載： 利用一個(gè)已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量的精度
比較功能： 對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果
接觸檢查功能： 可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時(shí)間為5ms
其它功能  
存儲(chǔ)/調(diào)用： 可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置
連續(xù)存儲(chǔ)功能： 若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來(lái)（在23°±5℃下≦72小時(shí)）
GPIB接口 所有控制設(shè)置，被測(cè)值和比較器信息
處理器接口 所有輸出信號(hào)均為負(fù)邏輯，光隔離的開(kāi)路集電極。輸出信號(hào)包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號(hào)，測(cè)量結(jié)束和報(bào)警。輸入信號(hào)包括鍵鎖定和外觸發(fā)