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高功率微波在片測試系統(tǒng)通過驗收

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高功率微波在片測試系統(tǒng)通過驗收 
2月24日,由中科院上海微系統(tǒng)所孫曉瑋研究員承擔的2006年度院科研裝備研制項目“高功率微波在片測試系統(tǒng)”正式驗收。驗收會由院計劃財務局田東生主持。
測試專家組通過對設備技術指標的現場測試及實驗記錄核實,一致認為“高功率微波在片測試系統(tǒng)”各項測試技術指標均滿足合同要求。驗收專家組聽取了項目組的工作總結報告和測試組的測試報告,審查了項目組提供的技術報告等有關資料,進行了充分提問和熱烈討論,并現場核實設備的就位和運行狀態(tài),認為“高功率微波在片測試系統(tǒng)”基于脈沖直流饋電偏置方法,結合負載牽引阻抗調配技術,實現了微波功率芯片*匹配條件下的zui大輸出功率的在片測試功能;測量采用軟件同步,完成了測試軟件平臺建立,通過在片自動微波功率芯片的測試系統(tǒng)中應用,證明該平臺運行可靠、測量算法正確、系統(tǒng)校準方法可信。儀器運行正常、達到預定技術指標、技術檔案齊全、經費使用合理,專家組一致同意通過項目驗收。
“高功率微波在片測試系統(tǒng)”項目是微系統(tǒng)所承擔的中科院第二項儀器研制項目, 該項目在儀器的功能集成創(chuàng)新、系統(tǒng)智能化自動控制等方面取得創(chuàng)新性研究成果,項目在執(zhí)行過程中,申請中國發(fā)明1項和獲得集成電路布圖設計登記3項,發(fā)表SCI等收錄的學術論文6篇,培養(yǎng)了研究生2名。該項目的驗收標志著微系統(tǒng)所的儀器研制水平又上了一個新臺階。

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