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冷熱沖擊試驗箱標準

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更新時間:2017-10-18 09:08:17瀏覽次數(shù):625

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產品簡介

冷熱沖擊試驗箱標準:(可按需定制)上部為高溫箱,下部為低溫箱;沖擊試驗時采用高溫箱、低溫箱靜止,通過移動吊欄快速(10秒)移動到高、低溫箱內,從而實現(xiàn)冷熱沖擊目的;冷熱沖擊試驗箱適用于塑膠、電子、食品、服裝、車輛、金屬、化學、建材、航天等多種行業(yè)的產品。。

詳細介紹

冷熱沖擊試驗機標準主要技術指標:
溫度范圍:高溫箱: +60℃~200℃;
低溫箱: 0℃~-70℃;
溫度波動度:±0.5℃
溫度均勻:±2℃;
升溫速率:≤5℃/min; (全程平均)
降溫速率:≤5℃/min;; (全程平均)
預冷下限溫度:≤-70℃;
沖擊溫度:+150~-60℃;
工作室尺寸: 400×400×500mm; (深×寬×高)
樣品架尺寸:150×150mm;
溫度恢復時間: 5min;
樣品架轉換時間:≤10s;
沖擊方式:上下移動提籃式或翻板式
電源:380V±10﹪ 50Hz

冷熱沖擊試驗機標準安全保護措施
1、安全可靠的接地保護裝置   
2、電源欠壓、缺相保護   
3、獨立的工作室超溫保護   
4、制冷機超壓、過載、油壓欠壓保護;   
5、加熱器短路、過載保護

冷熱沖擊試驗機制造引用標準:
GB/T2423.22-2002《基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分 試驗N:溫度變化》
IEC 60068-2-14:1984《基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分 試驗N:溫度變化》(修正件1:1986)
GB/T2423.1-2001電工電子產品環(huán)境試驗 試驗A低溫(idt IEC 60068-2-1:1990)
GB/T2423.2-2001電工電子產品環(huán)境試驗 試驗B高溫(idt IEC 60068-2-2:1974)
GB/T2423.13-2002電工電子產品環(huán)境試驗 溫度變化試驗導則(idt IEC 60068-2-33:1971)
IEC600682-33:1997電工電子產品環(huán)境試驗溫度變化試驗導則
GB/T 2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971電工電子產品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認

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