冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)主要技術(shù)指標(biāo)：
溫度范圍：高溫箱： +60℃～200℃；
低溫箱： 0℃～-70℃；
溫度波動(dòng)度：±0.5℃
溫度均勻：±2℃;
升溫速率：≤5℃/min； （全程平均）
降溫速率：≤5℃/min；； （全程平均）
預(yù)冷下限溫度：≤-70℃;
沖擊溫度：+150～-60℃;
工作室尺寸： 400×400×500mm; （深×寬×高）
樣品架尺寸:150×150mm;
溫度恢復(fù)時(shí)間： 5min;
樣品架轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10s;
沖擊方式：上下移動(dòng)提籃式或翻板式
電源：380V±10﹪ 50Hz

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)安全保護(hù)措施
1、安全可靠的接地保護(hù)裝置 　　
2、電源欠壓、缺相保護(hù) 　　
3、獨(dú)立的工作室超溫保護(hù) 　　
4、制冷機(jī)超壓、過載、油壓欠壓保護(hù)； 　　
5、加熱器短路、過載保護(hù)

冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)制造引用標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.22-2002《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2部分 試驗(yàn)N:溫度變化》
IEC 60068-2-14：1984《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2部分 試驗(yàn)N:溫度變化》（修正件1：1986）
GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A低溫（idt IEC 60068-2-1:1990）
GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)B高溫（idt IEC 60068-2-2:1974）
GB/T2423.13-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則（idt IEC 60068-2-33:1971）
IEC600682-33：1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)