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德國(guó)EPK MiniTest 4100 涂鍍層測(cè)厚儀

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  • 深圳市偉峰儀器儀表有限公司
  • 2024-06-18 18:51:58
  • 深圳市
  • 德國(guó)EPK（Elektrophysik）公司
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【簡(jiǎn)單介紹】

德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；

【詳細(xì)說明】

德國(guó)EPK MiniTest 4100 涂鍍層測(cè)厚儀

 

EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 4100技術(shù)特征：

 

型號(hào)1100210031004100
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)）111099
每個(gè)應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算，并可設(shè)寬容度極限值） 1 500
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) 1  
數(shù)據(jù)總量 100001000010000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar √√√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  √√
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar  √√
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  √√
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)    √
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值  √√
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 √√√
其他功能
設(shè)置極限值  √√
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過模擬柱識(shí)別zui大zui小值  √√
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)  √√
連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值  √√

EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 4100可選探頭參數(shù)：

　　所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
　　F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
　　N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
　　FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

 

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

zui小曲率半徑
（凸/凹）

zui小測(cè)量
區(qū)域直徑

zui小基
體厚度

探頭尺寸

磁
感
應(yīng)
法

F05

0-500μm

0.1μm

±（1%±0.7μm）

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±（1%±10μm）

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±（1%±10μm）

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±（3%±50μm）

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm

兩
用

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

電
渦
流
法

N02

0-200μm

0.1μm

±（1%±0.5μm）

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±（1%±1μm）

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N2

0-2000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

50μm

φ15x62mm

N2/90

0-2000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±（1%±25μm）

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±（1%±50μm）

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±（1%±0.3mm）

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±（1%±1μm）

平面

7mm

無限制

φ17x80mm

　　F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。
　　N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
　　CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

EPK涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭

 

FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（O.1μm）
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測(cè)頭， 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度
FN2
0～2000μm,φ5mm
兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
F05
0～500μm,φ3mm
磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高（O.1μm）
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
量程低端分辨率很高（O.1μm）
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
可用于較厚的覆層
 F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高（O.1μm）
 F2/90
0～2000μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
 F10
0～10mm,φ20mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層，
如玻璃、塑膠、混凝土等
 F20
0～20mm,φ40mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層，
如玻璃、塑膠、混凝土等
 F50
0～50mm,φ300mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層的隔音覆層
 N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（O.1μm）
 N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
 N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（O.1μm）
 N2
0～2000μm,φ5mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
 N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高（O.1μm）
 N2/90
0～2000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭， 尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
 N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
 N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
 N100
0～100mm,200mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
 CN02
10～200μm,φ7mm
用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板

 

德國(guó)EPK（Elektrophysik）公司MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
　　所有型號(hào)均可配所有探頭；
　　可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
　　可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

 
    
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