薄膜測厚儀的性能簡介

時間：2012/8/2閱讀：2620

薄膜測厚儀的性能簡介

非接觸式測厚儀的測量原理：使用兩個激光傳感器安裝在被測物（紙張）上下方，將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上，確保兩個傳感器的激光能對在同一點上。隨著被測物的移動傳感器就開始對其表面進(jìn)行采樣，分別測量出目標(biāo)上下表面分別與上下成對的激光位移傳感器距離，測量值通過串口傳輸?shù)接嬎銠C，再通過我們在計算機上的測厚軟件進(jìn)行處理，得到目標(biāo)的厚度值。

　　ZTMS08非接觸式薄膜測厚儀的出現(xiàn)，大大提高了紙張等片材厚度測量的精度，尤其是在自動化生產(chǎn)線上，得到廣泛應(yīng)用。

zui近英國真尚有公司研發(fā)出了新的非接觸式測量方法ZTMS08測厚儀，可以實現(xiàn)對薄膜的非接觸式測量，避免對紙張造成形變引起誤差。

技術(shù)指標(biāo)：

　　　　1.測量范圍：（0-25）mm 　　2.分辨率：0.001mm 　　3.電源：氧化銀電池SR44 　　4.工作溫度：0℃～+40℃ 　　5.儲運溫度：-20～+70℃ 　　6.相對濕度：≤80%

符合標(biāo)準(zhǔn)：

　　QB/T 1053-98，QB/T 451.3-98

薄膜測厚儀的性能簡介

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