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[供應(yīng)]PCT-PCT高壓加速壽命試驗機
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  • PCT-PCT高壓加速壽命試驗機
貨物所在地:
上海上海市
更新時間:
2023-04-30 21:00:06
有效期:
2023年4月30日 -- 2023年10月30日
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產(chǎn)品簡介

PCT高壓加速壽命試驗機的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗

詳細介紹

PCT高壓加速壽命試驗機的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗.

PCT高壓加速壽命試驗機c產(chǎn)品特點:

符合規(guī)范的三項控制模式

可滿足IEC60068-2-66、JESDEC-A110A118規(guī)范要求,3種控制模式包含:不飽和控制(干濕球溫度控制)、不飽和控制(升溫溫度控制)、濕潤飽和控制。

符合規(guī)范單槽結(jié)構(gòu)設(shè)計

IEC60068-2-66、JESDEC A110、A118

模式新升級

出色的溫濕度精密控制邏輯,防止待測品潮濕與結(jié)露的模式選擇。

壓力數(shù)據(jù)真實呈現(xiàn)

壓力值采實際感應(yīng)偵測,確保溫度、濕度及壓力值準確度

*安全保護系統(tǒng)

三道高溫保護裝置、濕度用水斷水保護與電熱斷水空焚保護、機臺停機時自動排除飽和蒸氣壓力、氣動機構(gòu)壓力保護等...,完善的保護裝置,保障實驗室與操作人員安全。

完善的擴充選擇

保護待測品的時序裝置&BIAS電壓端子:符合JESD22-A110之實驗規(guī)范要求,模擬待測品在高溫、高濕環(huán)境下,加載大工作電壓,檢測內(nèi)部封裝模塊材料接合與保護層的滲透,并且觀察是否造成遷移。

 

PCT試驗條件(整理PCB、PCT、IC半導(dǎo)體以及相關(guān)材料有關(guān)于PCT[蒸汽鍋測試]的相關(guān)測試條件)

試驗名稱

溫度

濕度

時間

檢查項目&補充說明

JEDEC-22-A102

121

*R.H.

168h

其他試驗時間:24h48h、96h、168h240h、336h

IPC-FC-241B-PCB銅張積層板的拉剝強度試驗

121

*R.H.

100 h

銅層強度要在 1000 N/m

IC-Auto Clave試驗

121

*R.H.

288h

 

低介電高耐熱多層板

121

*R.H.

192h

 

PCB塞孔劑

121

*R.H.

192h

 

PCB-PCT試驗

121

*R.H.

30min

檢查:分層、氣泡、白點

無鉛焊錫加速壽命1

100

*R.H.

8h

相當于高溫高濕下6個月,活化能=4.44eV

無鉛焊錫加速壽命2

100

*R.H.

16h

相當于高溫高濕下一年,活化能=4.44eV

IC無鉛試驗

121

*R.H.

1000h

500小時檢查一次

液晶面板密合性試驗

121

*R.H.

12h

 

金屬墊片

121

*R.H.

24h

 

半導(dǎo)體封裝試驗

121

*R.H.

5001000 h

 

PCB吸濕率試驗

121

*R.H.

5、8h

 

FPC吸濕率試驗

121

*R.H.

192h

 

PCB塞孔劑

121

*R.H.

192h

 

低介電率高耐熱性的多層板材料

121

*R.H.

5h

吸水率小于0.40.6%

TG玻璃環(huán)氧多層印刷電路板材料

121

*R.H.

5h

 

試驗箱結(jié)構(gòu)特點:

試驗箱由一個壓力容器組成,壓力容器包括一個能產(chǎn)生*(潤濕)環(huán)境的水加熱器,待測品經(jīng)過PCT試驗所出現(xiàn)的不同失效可能是大量水氣凝結(jié)滲透所造成的。

澡盆曲線:澡盆曲線(Bathtub curve、失效時期),又用稱為浴缸曲線、微笑曲線,主要是顯示產(chǎn)品的于不同時期的失效率,主要包含早夭期(早期失效期)、正常期(隨機失效期)、損耗期(退化失效期),以環(huán)境試驗的可靠度試驗箱來說得話,可以分為篩選試驗、加速壽命試驗(耐久性試驗)及失效率試驗等。進行可靠性試驗時"試驗設(shè)計"、"試驗執(zhí)行""試驗分析"應(yīng)作為一個整體來綜合考慮。

常見失效時期:
早期失效期(早夭期,Infant Mortality Region):不夠完善的生產(chǎn)、存在缺陷的材料、不合適的環(huán)境、不夠完善的設(shè)計。
隨機失效期(正常期,Useful Life Region):外部震蕩、誤用、環(huán)境條件的變化波動、不良抗壓性能。
退化失效期(損耗期,Wearout Region):氧化、疲勞老化、性能退化、腐蝕。 

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