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當前位置:南京互川電子有限公司>>無損檢測器材>>超聲波探傷試塊>> CSK-IIIA超聲波標準試塊
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號CSK-IIIA
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地南京市
更新時間:2024-04-15 14:08:12瀏覽次數(shù):2248次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)中華人民共和國行業(yè)標準試塊 JB4730-2005
本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測,也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測,也可參照本部分使用。標準試塊是指部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)新能校準和檢測校準的試塊。標準試塊應(yīng)采用與被檢測工件相同或近似的材料制成。該材料用直探頭檢測時,不得有大于Φ2mm平底孔當量直徑的缺陷。對比試塊是指用于檢測校準的試塊。對比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征,試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測,試塊的厚度應(yīng)由其zui大厚度來確定。
CSK-IA、CSK-IIA和CSK-IIIA標準試塊
適用于壁厚范圍為6-120mm的焊接接頭,CSK-IA和CSK-IVA系列試塊用壁厚范圍大于120-400mm的焊接接頭。
技術(shù)參數(shù):
型號:CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:(mm)300×150×30
行位公差(國標):±0.10×0.05×0.05
(⊥): ⊥<0.05
(∥) :∥<0.03
(Ra): Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10
試塊檢測報告:
超聲波探傷 | |||
檢測儀器 | CTS-26 | 探頭 | 2.5P直徑20 |
檢測部位 | 平面 | 耦合劑 | 機油 |
增益 | 80% | 抑制 | 關(guān) |
衰減 | 42db | ||
探傷結(jié)果 | 材質(zhì)均勻,無雜質(zhì),無影響使用缺陷. | ||
試塊材質(zhì)符合GB/T699-1999(優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼)標準要求. | |||
金相分析:晶粒度7-8級 |
備注:校準(檢驗)所用主要計量標準器
1.游標卡尺
2.千分尺
3.微孔測量儀
4.三坐標測量儀
5.超聲波探傷儀
6.平底孔硅橡膠覆膜檢驗
7.萬能金相顯微鏡
8.樣板平尺
9.粗糙度儀.
產(chǎn)品關(guān)鍵字:超聲波探傷試塊,CSK-IIIA超聲波檢測試塊,CSK-IIIA碳鋼試塊,CSK-IIIA超聲波標準試塊,鋼焊縫手工超聲波探傷標準試塊
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