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微區(qū)掃描電化學(xué)工作站實(shí)驗(yàn)開始前的準(zhǔn)備工作

時(shí)間:2018-2-23 閱讀:856
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   微區(qū)掃描電化學(xué)工作站實(shí)驗(yàn)開始前,調(diào)整、檢查樣品的時(shí)間往往很長(zhǎng)。如果可以在噪聲信號(hào)中增強(qiáng)數(shù)據(jù)信號(hào)并收集數(shù)據(jù)信號(hào),可以大大減少時(shí)間投入,這樣的話,實(shí)驗(yàn)就會(huì)變得更快、更簡(jiǎn)略。本文介紹了四個(gè)即時(shí)有效的數(shù)據(jù)處理的方法,可以用于那些為了縮短實(shí)驗(yàn)時(shí)間而進(jìn)行的快速掃描獲得的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。本文演示的是一個(gè)不是特別水平的SKP樣品,設(shè)備沒有設(shè)置成提取有效數(shù)據(jù)的狀態(tài),實(shí)驗(yàn)結(jié)果很糟糕。處理后的數(shù)據(jù)顯示在掃描中心附近有一個(gè)小壓痕。為了進(jìn)行比較,還做了進(jìn)一步的檢查。
  微區(qū)掃描電化學(xué)工作站具有更高規(guī)格和更多探針技術(shù):
  掃描電化學(xué)顯微系統(tǒng)(SECM)
  交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)(ac-SECM)
  間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)(ic-SECM)
  微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試系統(tǒng)(LEIS)
  掃描振動(dòng)點(diǎn)擊測(cè)試系統(tǒng)(SVET)
  電解液微滴掃描系統(tǒng)(SDS)
  交流電解液微滴掃描系統(tǒng)(ac-SDS)
  掃描開爾文探針測(cè)試系統(tǒng)(SKP)
  非觸式微區(qū)形貌測(cè)試系統(tǒng)(OSP)
  微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的,進(jìn)行超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。

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