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電化學顯微鏡在使用過程中這些細節(jié)要引起注重視
電化學顯微鏡工作原理
掃描振動參比電極系統(tǒng)是利用振動電極和鎖相放大器消除微區(qū)掃描中的噪聲干擾,提高測量精度. SVET系統(tǒng)具有高靈敏度,非破壞性,可進行電化學活性測量的特點.它可進行線性或面掃描,研究局部腐蝕（如電蝕和應力腐蝕的產(chǎn)生,發(fā)展等）,表面涂層及緩蝕劑的評價等方面的研究,掃描振動探針（SVET）是在液態(tài)腐蝕環(huán)境下,進行腐蝕研究的有力工具,它能檢測小于5uA/cm2的原位腐蝕。
電化學顯微鏡是一種基于超微電極的掃描微探針電化學技能，它將一支能夠進行三維方向移動的超微盤電極作為作業(yè)探針沉浸在電解質溶液中，在離基底約幾微米的方位進行掃描，通過探針上的電流改變來反映基底的形貌和性質。它是一款精密的掃描微電極體系，具有較高空間分辨率，在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。
微區(qū)電化學顯微鏡的日常使用注意事項：
1.搬動微區(qū)電化學顯微鏡時，要一手握鏡臂，一手扶鏡座，兩上臂緊靠胸壁。切勿一手斜提，前后擺動，以防鏡頭或其他零件跌落。
2.觀察標本時，顯微鏡離實驗臺邊緣應保持一定距離(5cm)，以免顯微鏡翻倒落地。鏡柱與鏡臂間的傾斜角度不得超過45度，用完立即還原。
3.使用時要嚴格按步驟操作，熟悉顯微鏡各部件性能，掌握粗、細調節(jié)鈕的轉動方向與鏡筒升降關系。轉動粗調節(jié)鈕向下時，眼睛必須注視物鏡頭。
4.觀察帶有液體的臨時標本時要加蓋片，不能使用傾斜關節(jié)，以免液體污染鏡頭和顯微鏡。
5.粗、細調節(jié)鈕要配合使用，細調節(jié)鈕不能單方向過度旋轉，調節(jié)焦距時，要從側面注視鏡筒下降，以免壓壞標本和鏡頭。
6.用單筒顯微鏡觀察標本，應雙眼同時睜開，左眼觀察物像，右眼用以繪圖，左手調節(jié)焦距，右手移動標本或繪圖。
7.禁止隨意擰開或調換目鏡、物鏡和聚光器等零件。
8.光學部件有污垢，可用擦鏡紙或綢布擦凈，切勿用手指、粗紙或手帕去擦，以防損壞微區(qū)電化學顯微鏡的鏡面。