掃描電化學(xué)顯微鏡將傳統(tǒng)的電極表面的電化學(xué)行為研究從宏觀尺寸拓展到局部的微米和納米尺度范圍內(nèi)。傳統(tǒng)的SECM使用超微電極（R<25um）探針在樣品表面近距離進(jìn)行恒高掃描以得到探針與樣品之間的電化學(xué)反應(yīng)信號(hào)，從而可以用來研究探針或者樣品與電化學(xué)反應(yīng)活性物種之間的相互作用過程和原理。傳統(tǒng)的SECM是探針以恒高方式掃描，而實(shí)際樣品表面高低起伏的變化會(huì)導(dǎo)致終得到的電化學(xué)反應(yīng)信號(hào)中夾雜著由于探針與樣品之間實(shí)際距離的不固定而引起的卷積效應(yīng)，降低了局部電化學(xué)信號(hào)的分辨率。