掃描電化學(xué)顯微鏡將傳統(tǒng)的電極表面的電化學(xué)行為研究從宏觀尺寸拓展到局部的微米和納米尺度范圍內(nèi)。傳統(tǒng)的SECM使用超微電極（R<25um）探針在樣品表面近距離進(jìn)行恒高掃描以得到探針與樣品之間的電化學(xué)反應(yīng)信號，從而可以用來研究探針或者樣品與電化學(xué)反應(yīng)活性物種之間的相互作用過程和原理。傳統(tǒng)的SECM是探針以恒高方式掃描，而實際樣品表面高低起伏的變化會導(dǎo)致終得到的電化學(xué)反應(yīng)信號中夾雜著由于探針與樣品之間實際距離的不固定而引起的卷積效應(yīng)，降低了局部電化學(xué)信號的分辨率。