微區(qū)掃描電化學(xué)工作站(Scanning Electrochemical Microscope, SECM)是一種利用掃描探針進(jìn)行微區(qū)電化學(xué)測(cè)量的儀器。它通過(guò)控制掃描電極的運(yùn)動(dòng)，以微米級(jí)的空間分辨率對(duì)樣品進(jìn)行掃描，可以在不破壞樣品表面的情況下，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的電化學(xué)反應(yīng)過(guò)程進(jìn)行高精度的定位和測(cè)量。
 

　　工作原理是在掃描探針和樣品之間建立微小的電化學(xué)反應(yīng)區(qū)，通過(guò)控制掃描探針的移動(dòng)和電位的變化，可以對(duì)該反應(yīng)區(qū)的電化學(xué)行為進(jìn)行監(jiān)測(cè)。SECM通常采用的探針有微電極探針、納米電極探針和微型懸臂梁探針等，這些探針能夠?qū)ξ^(qū)進(jìn)行高精度測(cè)量，并且可根據(jù)需要進(jìn)行選擇和更換。
 

　　微區(qū)掃描電化學(xué)工作站具有以下特點(diǎn)：
 

　　1.非接觸式測(cè)量：SECM通過(guò)掃描電極與樣品之間的微小電化學(xué)反應(yīng)區(qū)進(jìn)行測(cè)量，無(wú)需直接接觸樣品表面，不會(huì)對(duì)樣品表面造成損傷。
 

　　2.高精度測(cè)量：SECM具有微米級(jí)的空間分辨率，可以對(duì)微小的電化學(xué)反應(yīng)進(jìn)行定位和測(cè)量，可以探測(cè)到微區(qū)域內(nèi)的化學(xué)反應(yīng)特征。
 

　　3.實(shí)時(shí)測(cè)量：SECM可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電化學(xué)反應(yīng)的過(guò)程，能夠記錄瞬態(tài)反應(yīng)的變化過(guò)程。
 

　　4.可控性強(qiáng)：SECM能夠?qū)呙杼结樀奈恢?、掃描速率、電位等參?shù)進(jìn)行精細(xì)調(diào)節(jié)，從而能夠?qū)Σ煌碾娀瘜W(xué)反應(yīng)進(jìn)行控制和調(diào)節(jié)。
 

　　微區(qū)掃描電化學(xué)工作站在化學(xué)、生物、材料科學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用，如對(duì)電化學(xué)反應(yīng)的機(jī)理和動(dòng)力學(xué)進(jìn)行研究、對(duì)生物分子和細(xì)胞進(jìn)行高精度測(cè)量、對(duì)納米材料表面的電化學(xué)特性進(jìn)行研究等。需要注意的是，SECM在使用過(guò)程中需要注意探針的選擇和更換，同時(shí)要保持樣品表面的光潔度和穩(wěn)定性，以獲得高質(zhì)量的測(cè)量結(jié)果。