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技術(shù)文章

芯片老化測試如何選擇合適的老化房

閱讀:344          發(fā)布時間:2024-12-26

          芯片老化測試作為電子產(chǎn)品可靠性驗證的關(guān)鍵環(huán)節(jié),對于確保產(chǎn)品在各種環(huán)境下的穩(wěn)定運行十分重要。選擇合適的老化房不僅關(guān)乎測試結(jié)果的準(zhǔn)確性,還直接影響到測試效率和成本。今天,讓我們來好好的聊一聊,關(guān)于芯片老化測試如何選擇合適的老化房吧!咱們先看看老化房的幾種類型:


         1. 房間隔離式測試系統(tǒng)型。 此類老化房房間尺寸根據(jù)客戶要求定制,采用保溫推拉門或雙開保溫門,并可根據(jù)需要設(shè)置觀察窗,便于室外觀察室內(nèi)測試情況。該系統(tǒng)對產(chǎn)品的樣式與臺車樣式要求低,活動空間大,結(jié)構(gòu)簡單,成本相對較低,適用于大批量產(chǎn)品的老化測試。


老化房



         2.Chamber隔離式測試系統(tǒng)型 :與房間隔離式類似,但測試區(qū)采用推拉門及大視角玻璃視窗,電源插座固定在產(chǎn)品架線槽上或測試區(qū)方便操作的位置,便于對小型或精密產(chǎn)品進(jìn)行老化測試。


         3.移動式測試系統(tǒng)型 : 老化房在廠家加工為成品或在客戶現(xiàn)場拼裝而成,臺車尺寸根據(jù)客戶需求設(shè)計,占地面積小,可隨時搬遷移動,適合產(chǎn)量少或研發(fā)試驗產(chǎn)品的小批量測試。


         老化房款式多種,要選擇合適的老化房,主要還是關(guān)注其關(guān)鍵參數(shù)與性能指標(biāo),包括溫度控制精度、溫度范圍、溫度波動與偏差、噪音大小等。


          1. 溫度控制精度 : 老化房的溫度控制精度是衡量其性能的重要指標(biāo)。高質(zhì)量的老化房采用先進(jìn)的風(fēng)道系統(tǒng)設(shè)計和電控系統(tǒng),能夠保持整個房間溫度的高度均勻性,大大優(yōu)于同類產(chǎn)品。溫度控制精度通常在+0.5℃C至+3℃之間,可根據(jù)客戶需求定制更高精度。


老化房



          2. 溫度范圍 : 老化房的溫度設(shè)定范圍應(yīng)廣泛且連續(xù)可調(diào),通常在常溫+5℃至60℃(或更高至80℃)之間,以滿足不同芯片老化測試的需求。


          3.溫度波動與偏差 :溫度波動是指老化房內(nèi)溫度在一定時間內(nèi)的最大變化量而溫度偏差是指老化房內(nèi)各點溫度與設(shè)定溫度的差值。


            勤卓(kingjo)十多年專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)可編程高低溫濕熱交變試驗箱/復(fù)層式高低溫試驗箱/三箱式高低溫冷熱沖擊試驗箱/大型高低溫老化房/步入式恒溫恒濕實驗室/吊籃式冷熱沖擊試驗箱/溫濕度循環(huán)檢測機/非線性高低溫快速溫變試驗箱/濕熱循環(huán)檢測機/步入式循環(huán)試驗箱/氙燈加速老化試驗箱/甲醛試驗箱/可編程高低溫濕熱交變試驗箱/可編程循環(huán)測試機等可靠性環(huán)境試驗設(shè)備。


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