一、設(shè)備簡介：
高底溫試驗箱，高低溫交變試驗箱，冷熱交溫試驗箱，提供電子零件、汽車零件、筆記本電腦等電子產(chǎn)品的可靠度及溫濕度環(huán)境測試。                                     
二、 執(zhí)行標準與試驗方法:
  2.1  GB11158            高溫試驗箱技術(shù)條件 
  2.2  GB10589            低溫試驗箱技術(shù)條件 
  2.3  GB10592-89         高低溫試驗箱技術(shù)條件 
  2.4  GB/T2423.1-2001    低溫試驗箱試驗方法 
  2.5  GB/T2423.2-2001    高溫試驗箱試驗方法 
  2.6  GB/T2423.22-2001   溫度變化試驗方法 
  2.7  IEC60068-2-1.1990  低溫試驗箱試驗方法 
  2.8  IEC60068-2-2.1974  高溫試驗箱試驗方法 
  2.9  GJB150.3           高溫試驗 
  2.10 GJB150.4           低溫試驗
三、可程式恒溫恒濕箱內(nèi)外箱尺寸

       

四、高低溫試驗箱技術(shù)指標：
1、溫度范圍：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃
2、溫度均勻度：≤&plsmn;2℃ （空載時）
3、溫度波動度：&plsmn;0.5℃ （空載時）
4、溫度偏差:≤&plsmn;2℃
5、降溫速率：0.7～1.2℃/min
6、升溫速度：1.0～3.0℃/min
7、時間設(shè)定范圍：0～999 小時