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[供應(yīng)]Stream-DENS TEM 原位液相加熱/加電桿 返回列表頁(yè)
貨物所在地:上海上海市
產(chǎn)地:荷蘭
更新時(shí)間:2024-07-29 15:21:06
有效期:2024年7月29日 -- 2025年7月29日
已獲點(diǎn)擊:42
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Stream TEM 原位液相加熱/加電方案
01 產(chǎn)品概況
Stream TEM 原位液相加熱/加電方案為材料科學(xué)、化學(xué)和生物學(xué)中各類(lèi)研究提供了全新的觀察視野。其設(shè)計(jì)的Nano-Cell 芯片使其對(duì)樣品加熱或加電時(shí)可獨(dú)立控制流速和液體厚度。而之后集合組裝的液體供應(yīng)系統(tǒng) (LSS) ,引入了精準(zhǔn)控制和可重復(fù)使用的惰性氣體吹掃能力。通過(guò)吹掃,可以迅速去除樣品中多余的液體。從而實(shí)現(xiàn)高分辨成像、有價(jià)值的元素分析和電子衍射。并且LSS能夠主動(dòng)測(cè)量液體流量,能夠比較不同的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。此外,這意味著可以很容易地發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)中潛在的堵塞,并迅速采取行動(dòng),能夠高效和有效地利用TEM機(jī)時(shí)。這些設(shè)計(jì)為原位液相實(shí)驗(yàn)的原子級(jí)分辨像和高質(zhì)量的EDS、EELS結(jié)果帶來(lái)了新的可能性。
02 產(chǎn)品特點(diǎn)
實(shí)驗(yàn)成功率高 1. 確保樣品-液體相互作用 精心設(shè)計(jì)的微流體通道始終確保樣品和液體相互作用。 2. 消除不需要的氣泡 氣泡可以從成像區(qū)域沖走或溶解,從而更好地控制實(shí)驗(yàn)條件。 3. 引入新鮮液體 成像區(qū)域中的液體流量科控,使其能夠保持恒定和定向的流 量,從而實(shí)現(xiàn)連續(xù)的新鮮液體供應(yīng)。 4. 使用便捷 集成的液體供應(yīng)系統(tǒng) (LSS) 大大簡(jiǎn)化了系統(tǒng)的操作步驟,具備 高度用戶友好性。 |
可靠的環(huán)境刺激控制 1. 液體吹掃和厚度控制 通過(guò)最小化液體厚度控制或通過(guò)吹掃 Nano Cell 芯片來(lái)實(shí)現(xiàn)高 分辨成像、高精度元素分析和電子衍射。 2.液體流量測(cè)量 通過(guò)流量控制可以實(shí)現(xiàn)對(duì)液相實(shí)驗(yàn)動(dòng)態(tài)情況的掌握。 3. 大量運(yùn)輸控制 探索液體動(dòng)力學(xué)對(duì)樣品形態(tài)和電化學(xué)變化的影響。 |
清潔實(shí)驗(yàn) 1. 避免交叉污染 樣品桿的模塊化設(shè)計(jì)使用戶可以便捷地清潔或更換每一個(gè) 組件。 2. 避免堵塞 在您的實(shí)驗(yàn)過(guò)程中輕松清潔管道,無(wú)需從透射電鏡上取下 樣品桿。 |
03. 案例分享
先進(jìn)的 Stream 原位樣品桿可以確保樣品與液體之間的相互作用,甚至于可以將氣泡從成像區(qū)域沖走或者溶解,從而更好地控制實(shí)驗(yàn)條件,如圖中所展示,在 0.28 秒的極短時(shí)間內(nèi),液體填充整個(gè)觀察區(qū)域,并去除觀察區(qū)域內(nèi)的氣泡?;趬毫Φ囊后w泵通過(guò)加壓入口和出口的獨(dú)立設(shè)置,可精確控制液體流量和壓力。通過(guò)改變壓力,可以控制液體厚度,這樣就可以得到高分辨成像和高質(zhì)量的 EDS 結(jié)果。
04 應(yīng)用領(lǐng)域
05 原位實(shí)驗(yàn)技術(shù)簡(jiǎn)介
透射電子顯微鏡(TEM)一直是觀察微觀世界的有力工具。尤其是球差矯正器的出現(xiàn),科學(xué)家已經(jīng)可以實(shí)現(xiàn)在原子尺度上對(duì)材料的化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征成像。此外,TEM 的進(jìn)步也帶動(dòng)了 CCD 相機(jī)的發(fā)展,這樣,TEM 就同時(shí)具有優(yōu)異的空間分辨率和時(shí)間分辨率,那么時(shí)間和空間的結(jié)合,是否可以讓 TEM 動(dòng)起來(lái)?
眾所皆知,TEM 需要在高真空條件下表征靜止?fàn)顟B(tài)下的樣品,但這不足以反映材料在真實(shí)環(huán)境下的微觀結(jié)構(gòu)。為此,荷蘭 DENSsolutions 公司多位科學(xué)家利用最新的 MEMS 技術(shù),設(shè)計(jì)出的納米芯片,據(jù)此可以向 TEM 中引入動(dòng)態(tài)外界刺激條件,模擬樣品在真實(shí)環(huán)境下的狀態(tài),打破壓力的限制,記錄樣品的動(dòng)態(tài)變化過(guò)程,讓 TEM真正的實(shí)現(xiàn)動(dòng)起來(lái)。
荷蘭 DENSsolutions 公司為透射電鏡提供技術(shù)先進(jìn)的、納米尺度的原位顯微工具,其產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激,捕捉 TEM 樣品在真實(shí)環(huán)境下的動(dòng)態(tài)現(xiàn)象。目前,已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。
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