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[供應(yīng)]Phenom G2 pro-FEI旗下PhenomWorld臺(tái)式電子顯微鏡

貨物所在地:上海上海市

產(chǎn)地:美國(guó)/荷蘭

更新時(shí)間:2024-06-25 13:24:38

有效期:2024年6月25日 -- 2024年12月25日

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飛納臺(tái)式掃描電鏡 專業(yè)版
—— 智能、高效、多功能
放大倍數(shù):20×-45,000×
分辨率:優(yōu)于25nm
電子槍:1500小時(shí)CeB6燈絲
抽真空時(shí)間:10秒
樣品導(dǎo)電性要求:無需噴金,直接觀測(cè)絕緣體
拓展功能:3D粗糙度重建、纖維統(tǒng)計(jì)測(cè)量,高倍拼圖等
環(huán)境掃描選件(ESEM):溫控樣品臺(tái),可直接觀測(cè)液體

表面細(xì)節(jié)豐富的高分辨率照片

Phenom(飛納) G2 Pro 為您提供高信噪比、表面細(xì)節(jié)豐富的優(yōu)質(zhì)圖像:

•   20×-45,000×連續(xù)放大,分辨率優(yōu)于25nm,大景深;
•   傳統(tǒng)電鏡往往通過提高加速電壓來產(chǎn)生更高的信號(hào),同時(shí)由于穿透深度較深,導(dǎo)致表面細(xì)節(jié)缺失。低加速電壓
     電子穿透深度淺,避免樣品被破壞,展現(xiàn)更多表面細(xì)節(jié);
•   探測(cè)背散射電子,展現(xiàn)清晰形貌結(jié)構(gòu)的同時(shí),提供豐富的成份信息;
         5kV低加速電壓     15kV高加速電壓
CeB6燈絲
  1. 左圖:5kV低加速電壓下,電子反應(yīng)區(qū)位于樣品表面,配合高亮度CeB6燈絲,既保證了分辨率,又得到樣品表面的信息;

  2. 右圖:15kV高加速電壓下,電子穿透深度較深,表面細(xì)節(jié)不明顯

 

CeB6燈絲在樣品表面單位面積內(nèi)激發(fā)的信號(hào)約是鎢燈絲的10倍,適合于低加速電壓觀測(cè)

表面形貌和成分信息同時(shí)展現(xiàn)

背散射電子的產(chǎn)率、出射角度與樣品成份及表面形貌相關(guān)。Phenom(飛納)采用4分割半導(dǎo)體背散射電子探測(cè)器,為您提供兩種成像模式,模式之間可迅速切換:
 
•   成份模式:同時(shí)給出樣品表面形貌與成份信息,不同元素可由其灰度對(duì)比度的不同加以分辨
•   形貌模式:去除成份信息,樣品表面凹凸起伏等微觀結(jié)構(gòu)更加明晰,適用于表面粗糙度和缺陷分析
成份模式
形貌模式

成份模式
4分割背散射電子探測(cè)器扇區(qū)所得的信號(hào)相疊加

  1.  

形貌模式
4分割背散射電子探測(cè)器扇區(qū)所得的信號(hào)相抵消

  1.  
成份模式圖像
形貌模式圖像

成份模式圖像包含樣品成份與形貌信息

形貌模式圖像僅突出樣品表面形貌特征

樣品杯,30秒快速成像

Phenom(飛納)樣品杯、低真空設(shè)計(jì)、的真空封鎖技術(shù),裝入樣品后30秒內(nèi)即可得到高質(zhì)量圖像,耗時(shí)僅為傳統(tǒng)電鏡的1/10左右。
測(cè)樣數(shù)量每小時(shí)對(duì)比圖     

 

樣品杯
裝樣后的樣品杯

直接觀看絕緣體,無需噴金

Phenom(飛納)采用低真空技術(shù),出射電子與空氣分子碰撞產(chǎn)生正離子,正離子與樣品表面累積的電子中和,有效抑制荷電效應(yīng)的產(chǎn)生,直接觀測(cè)各種不導(dǎo)電樣品(如下圖所示)。

利用降低荷電效應(yīng)樣品杯,更可將開始荷電的放大倍數(shù)提高8倍左右,而且不會(huì)影響燈絲壽命,下圖頭發(fā)示例:

    

操作簡(jiǎn)便,全程導(dǎo)航

 

•  自動(dòng)/手動(dòng)聚焦

Phenom(飛納)操作界面。通過點(diǎn)擊右側(cè)圖標(biāo)可以輕松完成圖像縮放、聚焦、亮度對(duì)比度調(diào)節(jié)、旋轉(zhuǎn)等操作。界面右側(cè)顯示光學(xué)導(dǎo)航和低倍SEM導(dǎo)航窗口,方便用戶在不同樣品、不同區(qū)域間進(jìn)行切換。
•  自動(dòng)/手動(dòng)亮度
•  自動(dòng)/手動(dòng)對(duì)比度
•  自動(dòng)燈絲居中調(diào)節(jié)
•  自動(dòng)馬達(dá)樣品臺(tái)
•  光學(xué)/電子樣品導(dǎo)航
全程樣品導(dǎo)航  

光學(xué)導(dǎo)航,所有帶觀測(cè)樣品盡在視野之中,高倍下準(zhǔn)確切換樣品,只需點(diǎn)擊感興趣樣品,即可自動(dòng)移動(dòng)到屏幕*

低倍SEM照片導(dǎo)航,導(dǎo)航窗口中的彩色矩形框指示了住觀測(cè)窗口的觀測(cè)區(qū)域,點(diǎn)擊感興趣的區(qū)域,自動(dòng)移動(dòng)到樣品*。

環(huán)境適應(yīng)性高,*防震

Phenom(飛納)可以放置在幾乎所有的室內(nèi)環(huán)境當(dāng)中,無需超凈間。采用燈絲、探測(cè)器、樣品臺(tái)相對(duì)一體化的設(shè)計(jì),震動(dòng)不會(huì)引起三者間的相對(duì)運(yùn)動(dòng),使Phenom成像不受震動(dòng)影響,可放置在較高樓層。

互聯(lián)網(wǎng)遠(yuǎn)程檢測(cè)

Phenom(飛納)擁有遠(yuǎn)程檢測(cè)功能,通過網(wǎng)絡(luò),專業(yè)工程師可隨時(shí)為您遠(yuǎn)程檢測(cè)系統(tǒng)、答疑解難,為您提供*的保護(hù),讓您的Phenom隨時(shí)處于*工作狀態(tài)。

豐富的拓展功能選件

ProSuite應(yīng)用平臺(tái)

 
 
 

適用于不同領(lǐng)域的樣品杯選件

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