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復納科學儀器（上海）有限公司

[供應]Phenom G2 pro-FEI旗下PhenomWorld臺式電子顯微鏡返回列表頁

貨物所在地：上海上海市

產(chǎn)地：美國/荷蘭

更新時間：2025-01-05 21:00:05

有效期：2025年1月5日 -- 2025年7月5日

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表面細節(jié)豐富的高分辨率照片
Phenom（飛納） G2 Pro 為您提供高信噪比、表面細節(jié)豐富的優(yōu)質圖像：
• 20×-45,000×連續(xù)放大，分辨率優(yōu)于25nm，大景深；
• 傳統(tǒng)電鏡往往通過提高加速電壓來產(chǎn)生更高的信號，同時由于穿透深度較深，導致表面細節(jié)缺失。低加速電壓
電子穿透深度淺，避免樣品被破壞，展現(xiàn)更多表面細節(jié)；
• 探測背散射電子，展現(xiàn)清晰形貌結構的同時，提供豐富的成份信息；

左圖：5kV低加速電壓下，電子反應區(qū)位于樣品表面，配合高亮度CeB6燈絲，既保證了分辨率，又得到樣品表面的信息；右圖：15kV高加速電壓下，電子穿透深度較深，表面細節(jié)不明顯		CeB6燈絲在樣品表面單位面積內激發(fā)的信號約是鎢燈絲的10倍，適合于低加速電壓觀測

表面形貌和成分信息同時展現(xiàn)
背散射電子的產(chǎn)率、出射角度與樣品成份及表面形貌相關。Phenom（飛納）采用4分割半導體背散射電子探測器，為您提供兩種成像模式，模式之間可迅速切換：
• 成份模式：同時給出樣品表面形貌與成份信息，不同元素可由其灰度對比度的不同加以分辨
• 形貌模式：去除成份信息，樣品表面凹凸起伏等微觀結構更加明晰，適用于表面粗糙度和缺陷分析

成份模式 4分割背散射電子探測器扇區(qū)所得的信號相疊加	形貌模式 4分割背散射電子探測器扇區(qū)所得的信號相抵消

成份模式圖像包含樣品成份與形貌信息	形貌模式圖像僅突出樣品表面形貌特征

樣品杯，30秒快速成像
Phenom（飛納）樣品杯、低真空設計、的真空封鎖技術，裝入樣品后30秒內即可得到高質量圖像，耗時僅為傳統(tǒng)電鏡的1/10左右。

直接觀看絕緣體，無需噴金

Phenom（飛納）采用低真空技術，出射電子與空氣分子碰撞產(chǎn)生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，有效抑制荷電效應的產(chǎn)生，直接觀測各種不導電樣品（如下圖所示）。

利用降低荷電效應樣品杯，更可將開始荷電的放大倍數(shù)提高8倍左右，而且不會影響燈絲壽命，下圖頭發(fā)示例：

操作簡便，全程導航
	• 自動/手動聚焦	Phenom（飛納）操作界面。通過點擊右側圖標可以輕松完成圖像縮放、聚焦、亮度對比度調節(jié)、旋轉等操作。界面右側顯示光學導航和低倍SEM導航窗口，方便用戶在不同樣品、不同區(qū)域間進行切換。
	• 自動/手動亮度
	• 自動/手動對比度
	• 自動燈絲居中調節(jié)
	• 自動馬達樣品臺
	• 光學/電子樣品導航

			光學導航，所有帶觀測樣品盡在視野之中，高倍下準確切換樣品，只需點擊感興趣樣品，即可自動移動到屏幕*
			低倍SEM照片導航，導航窗口中的彩色矩形框指示了住觀測窗口的觀測區(qū)域，點擊感興趣的區(qū)域，自動移動到樣品*。