試驗(yàn)設(shè)備低溫試驗(yàn)箱

試驗(yàn)設(shè)備低溫試驗(yàn)箱

性能指標(biāo)
 
溫度范圍

  A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃ C:-60℃~130℃ D:-60℃~130℃
波動(dòng)/均勻度 ≤±0.5℃ /±2℃
升溫時(shí)間 2℃~3℃/min （空載）
降溫時(shí)間 0.7℃~1℃/min （空載）

試驗(yàn)設(shè)備

低溫試驗(yàn)箱溫度控制系統(tǒng)
 
控制器

  進(jìn)口“富士”微電腦溫濕度集成控制器（溫度直接顯示百分?jǐn)?shù)）
精度范圍 溫度±0.1℃、濕度±0.1%R.H，
溫濕度傳感器 鉑金電阻 PT100Ω
加熱系統(tǒng) 鎳鉻合金電加熱式加熱器
制冷系統(tǒng) 全封閉風(fēng)冷單級(jí)壓縮制冷/原裝法國“泰康”/全封閉風(fēng)冷復(fù)疊壓縮制冷
循環(huán)系統(tǒng) 耐高溫低噪音離心式電機(jī)，多葉式離心風(fēng)輪

試驗(yàn)設(shè)備低溫試驗(yàn)箱 箱體材質(zhì)
 
外箱材質(zhì)
 優(yōu)質(zhì)A3鋼板，表面磷化靜電噴塑
內(nèi)箱材質(zhì) SUS304不銹鋼優(yōu)質(zhì)2B級(jí)光板
保溫材質(zhì) 超薄超細(xì)玻璃纖維
門框隔熱 雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條

滿足標(biāo)準(zhǔn)
 
GB2423.1—93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；

 
GB2423.2—93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；

附件
 
標(biāo)準(zhǔn)配置

  多層鋼化玻璃加熱除霜附照明玻璃視窗、試品架2個(gè)、測試引線孔（Φ50mm）1個(gè)
安全保護(hù) 漏電、短路、超溫、壓縮超壓、過載、過電流保護(hù)
電源電壓 AC220 或380V±10% 50HZ 三相四線制
使用環(huán)境溫度 5℃～ 30℃ ≤85 % R.H

試驗(yàn)設(shè)備低溫試驗(yàn)箱