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KERN實(shí)驗(yàn)室話題:天平內(nèi)校與外校

閱讀:1526        發(fā)布時間:2014-7-31

   我們知道,強(qiáng)制性的計量設(shè)備是要求外校的。但是實(shí)驗(yàn)室使用的電子天平該選擇內(nèi)校還是外校。對于這個問題,島韓實(shí)業(yè)認(rèn)為,每一個實(shí)驗(yàn)室的使用情況都不同,使用天平稱量說明了該稱量比較重要,要求天平天平靈敏度等處于*狀態(tài),需經(jīng)常對電子天平進(jìn)行自?;蚨ㄆ谕庑?,那么在實(shí)際的維護(hù)中,電子天平的內(nèi)校和外校有什么區(qū)別呢

      

內(nèi)校型電子天平是指校準(zhǔn)砝碼在電子天平內(nèi)部,用電機(jī)驅(qū)動有內(nèi)置砝碼升降裝置的電子天平,校準(zhǔn)時只需按一下校準(zhǔn)鍵就可以完成校準(zhǔn)過程。

外校型電子天平是指通過手動,校準(zhǔn)時先按校準(zhǔn)鍵,再把標(biāo)準(zhǔn)砝碼放到電子天平秤盤上,來完成校準(zhǔn)過程。砝碼用單獨(dú)的砝碼盒保存。

     

電子天平的準(zhǔn)確性與內(nèi)校和外校無關(guān),主要看砝碼的等級和電子天平傳感器質(zhì)量,一般新出廠的天平所帶的外帶砝碼和內(nèi)置砝碼等級是相同的,所以沒有區(qū)別,但隨著使用時間的推移,外帶砝碼的損耗一般比內(nèi)置砝碼要大:會受灰塵、酸堿腐蝕等等影響,一個手指印就會有幾十微克重,如果保管不當(dāng)還有丟失的情況存在。所以每年的計量檢驗(yàn)不合格的話,就需要更換砝碼。

內(nèi)置砝碼的天平一般不會出現(xiàn)上述情況,并可以通過修改天平的校正程序參數(shù)來修正偏差、雖然內(nèi)校天平價格比外校天平價格貴20%左右。

          

總的來說,外部校準(zhǔn)的缺點(diǎn)是操作比較復(fù)雜,對砝碼要求比較嚴(yán)格,如果砝碼有灰塵或磨損現(xiàn)象,會對校準(zhǔn)產(chǎn)生影響,但是外校方式可選擇性強(qiáng),用戶可以用不同質(zhì)量的砝碼進(jìn)行校準(zhǔn);內(nèi)部校準(zhǔn)方式操作簡單,省略很多操作步驟,也避免了標(biāo)準(zhǔn)砝碼不同而帶來的誤差,但價格上比外校型天平高很多。大家可根據(jù)自己的實(shí)際情況進(jìn)行選擇。

以上就是KERN實(shí)驗(yàn)室天平話題的內(nèi)容,島韓希望能給您的實(shí)驗(yàn)室生活帶來些許幫助。選擇適當(dāng)?shù)?/span>天平校準(zhǔn)方式,是保證電子天平 稱量準(zhǔn)確的重要做法,不可以疏忽對待。

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