X射線測(cè)試卡

X射線測(cè)試卡－用于空間分辨力測(cè)試、調(diào)整傳遞函數(shù)（MTF）測(cè)試和焦點(diǎn)尺寸測(cè)試

型號(hào)種類繁多，下面選一例詳細(xì)介紹：

產(chǎn)品名稱：X射線分辨率測(cè)試 無(wú)損檢測(cè)成像測(cè)試卡 分辨率測(cè)試卡 線對(duì)卡

原產(chǎn)地：德國(guó)

38型線對(duì)卡：適用于X射線成像的分辨率檢測(cè)和質(zhì)量控制以及X射線成像設(shè)備的質(zhì)量保證：

QC &QA

線對(duì)卡：現(xiàn)貨發(fā)售 為您提供便捷的產(chǎn)品服務(wù) 和產(chǎn)品體驗(yàn)。

產(chǎn)品介紹:不僅可用于常規(guī)射線照相底片質(zhì)量和射線實(shí)時(shí)成像圖像質(zhì)量的檢測(cè)，也可以用于工業(yè)CT、CT,X光診斷設(shè)備的圖像分辨率質(zhì)量檢測(cè)。用分辨率測(cè)試卡可測(cè)定X射線成像系統(tǒng)的可視分辨率

測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中

產(chǎn)品的說(shuō)明：

分辨率范圍：

0.6-5.0 lp/mm  0.6-10.0lp/mm

更多的分辨率要求，歡迎咨詢。

 鉛當(dāng)量：0.01PB  0.05PB  

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm

還可根據(jù)用戶的參數(shù)需求加工生產(chǎn)