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耗散型石英晶體微天平Q-sense E4

閱讀:104      發(fā)布時間:2015-09-09
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    Q-Sense E4是一種檢測吸附在表面上的分子反應(yīng)機制的實時分析儀器。當(dāng)分子層在傳感器表面質(zhì)量發(fā)生變化或者結(jié)構(gòu)發(fā)生改變時,E4可以測量分子層的變化。在材料、蛋白質(zhì)和表面活性劑等領(lǐng)域的研究中,Q-Sense E4設(shè)備起到了關(guān)鍵作用。

    從快速儀器入門使用,到高質(zhì)量數(shù)據(jù)分析,Q-Sense E4提供了一套完整的解決方案。儀器有四個流動模塊,每一個模塊都配備一個傳感器,可以進行四個平行測試。多種可選模塊,例如電化學(xué)QCM-D,可以進行聯(lián)用測試。我們的產(chǎn)品提供包括硬件、軟件、和讓您可以快速開始研究所需的介紹、培訓(xùn)以及實驗結(jié)果解析。

    Q-Sense E4設(shè)備基于極其靈敏和快捷的技術(shù),帶耗散因子檢測的石英晶體微天平(QCM-D)。該設(shè)備的核心是傳感器在加載電壓的作用下以特定頻率下振蕩。當(dāng)傳感器上的質(zhì)量發(fā)生變化時,其振蕩頻率會隨之變化(1)。斷開電路會導(dǎo)致振蕩衰減。衰減速率或者耗散因子與傳感器上的分子層粘彈性有關(guān)(2)。通過測定頻率和耗散,QCM-D可以分析吸附在傳感器表面的分子層狀態(tài),包括質(zhì)量、厚度和結(jié)構(gòu)性質(zhì)(粘彈性)。

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