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島津X射線檢測(cè)儀 Xslicer SMX-1010/1020:多場(chǎng)景實(shí)用檢測(cè)設(shè)備

閱讀:125          發(fā)布時(shí)間:2025-10-11

華高儀器于20251011發(fā)布了文章【島津 X 射線檢測(cè)儀 Xslicer SMX-1010/1020:多場(chǎng)景實(shí)用檢測(cè)設(shè)備】。作為在儀器設(shè)備行業(yè)服務(wù)了多年的經(jīng)銷商,華高儀器有著專業(yè)的儀器銷售團(tuán)隊(duì)以及售后服務(wù)人員,在采購(gòu)前期能給客戶一套專業(yè)完善的采購(gòu)方案以及及時(shí)響應(yīng)的售后服務(wù)。

 

儀器設(shè)備采購(gòu)方案咨詢 @惠州華高儀器

 

在工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域,對(duì)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)與缺陷的精準(zhǔn)觀察,是保障產(chǎn)品品質(zhì)、優(yōu)化生產(chǎn)流程的重要環(huán)節(jié)。島津推出的 X 射線檢測(cè)儀 Xslicer SMX-1010/1020,憑借垂直發(fā)射 X 射線設(shè)計(jì)與豐富功能,成為覆蓋多類樣品檢測(cè)需求的實(shí)用設(shè)備,在電子、制造等行業(yè)的檢測(cè)工作中發(fā)揮重要作用。

 

1. 核心配置與基礎(chǔ)性能

Xslicer SMX-1010/1020 采用垂直發(fā)射 X 射線系統(tǒng),搭載 90kV 微焦點(diǎn) X 射線發(fā)生器與高分辨率平板探測(cè)器。相較于前代型號(hào) SMX-1000 Plus,該設(shè)備在兩方面實(shí)現(xiàn)提升:

圖像質(zhì)量有明顯改善,能更清晰呈現(xiàn)樣品內(nèi)部細(xì)節(jié),助力檢測(cè)人員識(shí)別細(xì)微結(jié)構(gòu)與潛在問(wèn)題;

延續(xù)并優(yōu)化了島津標(biāo)志性的可操作性,降低人員上手難度,減少操作過(guò)程中的調(diào)整時(shí)間。

其中,SMX-1020 型號(hào)配備 3 兆像素高分辨率探測(cè)器,支持寬視場(chǎng)下的細(xì)致觀測(cè),可查看比 SMX-1010 更大范圍的樣品,適配不同尺寸檢測(cè)需求。

 

2. 畫(huà)質(zhì)優(yōu)化與圖像處理能力

設(shè)備以高畫(huà)質(zhì)為核心優(yōu)勢(shì),通過(guò)硬件配置與軟件技術(shù)結(jié)合,提升檢測(cè)清晰度與效率:

硬件上,SMX-1020 3 兆像素探測(cè)器為高畫(huà)質(zhì)呈現(xiàn)提供基礎(chǔ),能清晰捕捉樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu),幫助檢測(cè)人員準(zhǔn)確判斷樣品狀態(tài);

軟件上,內(nèi)置島津獨(dú)特的高動(dòng)態(tài)范圍處理技術(shù)(HDR 處理)。即便樣品各區(qū)域厚度、材料特性存在差異,單次掃描也能生成對(duì)比度適宜的圖像,讓空隙等缺陷更容易被觀察到,減少重復(fù)掃描的必要。

 

3. 高效操作與時(shí)間優(yōu)化設(shè)計(jì)

為適配工業(yè)場(chǎng)景下的檢測(cè)節(jié)奏,設(shè)備從軟件操作到硬件運(yùn)行速度均進(jìn)行優(yōu)化,縮短整體檢測(cè)耗時(shí):

操作流程簡(jiǎn)化:最新軟件將樣品更換到觀察的步驟精簡(jiǎn),僅需 3 個(gè)步驟即可啟動(dòng)觀察。點(diǎn)擊開(kāi)始按鈕后,X 射線發(fā)射與外部攝像頭成像自動(dòng)進(jìn)行,樣品放置完成后 5 秒內(nèi)就能開(kāi)啟 X 射線透視檢查,較前代型號(hào)提速明顯;

硬件速度提升:平板探測(cè)器采集速度較前代快 4 倍,載物臺(tái) XY 方向移動(dòng)速度快 1.6 倍。無(wú)論是日常單次檢測(cè),還是連續(xù)批量檢查,都能有效縮短每批次樣品的檢測(cè)節(jié)拍時(shí)間。

同時(shí),設(shè)備配備大屏幕與簡(jiǎn)潔的按鈕布局,界面直觀易懂,即使是第一次操作的人員,也能較快掌握基本檢測(cè)流程,降低人員培訓(xùn)成本。

 

4. 多功能集成與 3D 分析能力

該設(shè)備突破單一檢測(cè)模式限制,通過(guò)功能整合實(shí)現(xiàn)多場(chǎng)景應(yīng)用,尤其在 3D 分析方面表現(xiàn)突出:

基礎(chǔ)透視與全景成像:除常規(guī) X 射線透視檢查外,支持全景成像功能,可生成高達(dá) 32 兆像素的透視圖像,能在單幀畫(huà)面中完成電路板等大型樣品的整體檢查,無(wú)需多次拼接圖像;

可選 CT 功能:搭配可選的 CT 單元后,設(shè)備可從透視檢查升級(jí)為 3D 分析。CT 校準(zhǔn)過(guò)程已實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化,無(wú)需專業(yè)人員復(fù)雜調(diào)試,多數(shù)操作人員都能順利完成 CT 成像;

多場(chǎng)景適配:從表面貼裝電路板、傳感器、線束的常規(guī)透視檢查,到借助 CT 進(jìn)行的 3D 缺陷分析,均可通過(guò)同一臺(tái)設(shè)備完成,減少不同檢測(cè)需求下設(shè)備切換的麻煩。

此外,CT 單元的工作流程也進(jìn)行了簡(jiǎn)化,進(jìn)一步提升操作便捷性,讓 3D 分析在工業(yè)檢測(cè)中更易落地應(yīng)用。

 

5. 適用場(chǎng)景與行業(yè)價(jià)值

Xslicer SMX-1010/1020 憑借多功能、易操作、高畫(huà)質(zhì)的特點(diǎn),適配多類工業(yè)檢測(cè)需求:

在電子行業(yè),可用于表面貼裝電路板的內(nèi)部結(jié)構(gòu)檢查,識(shí)別焊接缺陷、元件布局問(wèn)題;

在制造領(lǐng)域,能對(duì)傳感器、線束等部件進(jìn)行檢測(cè),排查內(nèi)部損傷或裝配偏差;

面對(duì)大型樣品與 3D 分析需求時(shí),無(wú)需額外搭配其他設(shè)備,一臺(tái)設(shè)備即可覆蓋從整體檢查到細(xì)節(jié)分析的全流程。

該設(shè)備通過(guò)縮短檢測(cè)時(shí)間、降低操作門檻、提升圖像質(zhì)量,為企業(yè)檢測(cè)工作提供穩(wěn)定支持,幫助企業(yè)在保障產(chǎn)品品質(zhì)的同時(shí),優(yōu)化檢測(cè)環(huán)節(jié)效率,適配工業(yè)生產(chǎn)中的實(shí)際需求。

 

華高儀器在分析設(shè)備方面擁有專業(yè)知識(shí)。歡迎您與我司進(jìn)行聯(lián)系,您的咨詢我們都會(huì)及時(shí)進(jìn)行回復(fù)。我司提供實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)相關(guān)儀器設(shè)備(提供不同的配置方案),提供專業(yè)的技術(shù)支持。

 

感謝您的瀏覽,我們期待著您的咨詢!


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