日本日立X射線熒光分析儀

1. 快速測量

與之前的機器SEA1000AII相比，每個樣品的測量時間*都縮短了。例如，樹脂類樣品測量時間縮短了約1/3，金屬類則縮短了1/10。實現(xiàn)了處理量（每天可測樣品數(shù)量）的飛躍性提高。

表.1 為EA1000VX與SEA100AII樣品測量時間（平均值）

*Cd為20 ppm，除此以外的元素是為了達到100 ppm的檢測zui低限所必要的總共時間。（本公司推薦條件下實施）

2. 高技術(shù)率檢測器（Vortex）

不需要液氮，使用zui大15萬cps的高計數(shù)率檢測器（Vortex）測量高靈敏度化，實現(xiàn)快速測量及高精度測量等。

3. 通過環(huán)境限制物質(zhì)測量軟件Ver.2的各種新功能，強化了有害物質(zhì)測量功能—材料判斷功能

測量開始后短時間內(nèi)就可測量樣品的材質(zhì)種類。以往，在測量前需要選擇分析菜單，由于裝置可以自動判斷材質(zhì)，不會在選擇分析菜單時感到迷茫。

4. 提高操作性—操作面板

根據(jù)操作面板的指示器和提示音，了解測量進度。根據(jù)測量面板的進度條，把握測量進展。

5. 各種環(huán)境限制用的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

除RoHS指令的管理對象元素（Cd,Pb,Cr,Hg,Br）以外，我公司也開發(fā)和制造能對應(yīng)管理Cl、Sb、Sn等的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。

6. 自動進樣器（選購項）

自動進樣器zui多可連續(xù)測量12個樣品。

7. 通過環(huán)境限制物質(zhì)測量軟件Ver.2進行數(shù)據(jù)集中管理和趨勢管理

使用精度管理軟件使測量時間變短，通過利用數(shù)據(jù)庫對據(jù)點內(nèi)測量數(shù)據(jù)進行的集中管理（檢索、瀏覽、解析、編輯、印刷、報告書生成），可測量檢查的效率，達到消減成本。

日本日立X射線熒光分析儀