超聲掃描顯微鏡（SAT）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備，主要利用高頻超聲波，對各類半導體器件、材料進行檢測，能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導體、電力電子、熱管理材料、金剛石復合材料、碳纖維復合材料等行業(yè)需求。

1、 具備A（點掃描）、B（縱向掃描）、C（橫向掃描），Tray-托盤掃描等系列掃描模式。

2、 具備定量測分析功能，以圖像方式直觀顯示被測件內(nèi)部缺陷的位置、形狀和大小，并進行缺陷的尺寸和面積統(tǒng)計，自動計算缺陷占所測量面積的百分比；具備缺陷尺寸標識；厚度與測距等功能。

3、 適用于單個器件的快速掃描分析，也可批量放置樣品同步進行缺陷識別，快速篩選出不合格品。

4、 可兼容1~25MHz的超聲探頭。

5、 檢測軟件自主研發(fā)，中英文界面，可根據(jù)客戶需求對功能進行持續(xù)升級。

和伍超聲探傷儀多功能顯微鏡產(chǎn)品參數(shù)：

產(chǎn)品主要配置：

行業(yè)應用：

適用于電器焊接件、陶瓷材料等領域的缺陷檢測。