鄭州卓泰檢測(cè)設(shè)備有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第14年

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涂鍍層測(cè)厚儀 涂鍍層測(cè)厚儀概述 涂鍍層測(cè)厚儀類(lèi)型大全

時(shí)間:2013/11/5閱讀:1704
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涂鍍層測(cè)厚儀概述


涂鍍層測(cè)厚儀
即測(cè)厚儀(測(cè)厚儀)。因?yàn)闇y(cè)厚儀主要測(cè)量厚度的目標(biāo),就是某一物體的涂層或者是鍍層。所以測(cè)厚儀又叫涂鍍層測(cè)厚儀。這類(lèi)儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì);有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì);有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì);還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。

原理分類(lèi)


測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同,可大致分為:

1、接觸式測(cè)厚儀

接觸面積大小劃分:

  • 點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀
  • 面接觸時(shí)測(cè)厚儀

2、非接觸式測(cè)厚儀


非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同,又可分為以下幾種:

  • 激光測(cè)厚儀
  • 超聲波測(cè)厚儀
  • 涂層測(cè)厚儀
  • X射線測(cè)厚儀
  • 白光干涉測(cè)厚儀
  • 電解式測(cè)厚儀

主要類(lèi)型

激光測(cè)厚儀:


是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。

X射線測(cè)厚儀:


利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
 

紙張測(cè)厚儀:


適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。
 

薄膜測(cè)厚儀:


用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度,測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
 

超聲波測(cè)厚儀:


超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

適合測(cè)量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度。

X射線測(cè)厚儀:


適用生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè),可以與軋機(jī)配套,應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中,x射線測(cè)厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。

涂層測(cè)厚儀F型探頭可直接測(cè)量導(dǎo)磁材料(如鋼鐵、鎳)表面上的非導(dǎo)磁覆蓋層厚度(如:油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻、等)??蓱?yīng)用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測(cè)量,也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測(cè)量。

注意事項(xiàng)


測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法,放射測(cè)厚法,電解測(cè)厚法,渦流測(cè)厚法,超聲波測(cè)厚法。

測(cè)量注意事項(xiàng):

  1. 在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
  2. 測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
  3. 測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
  4. 測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
  5. 測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
  6. 測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量,因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
  7. 在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
  8. 在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸,因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

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