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回顧涂層測(cè)厚儀技術(shù)發(fā)展的歷史沿革,集中表現(xiàn)為以下技術(shù)特征:
B磁性涂鍍層測(cè)厚儀開發(fā)現(xiàn)狀
材料保護(hù)度測(cè)量—磁性方法》指出,磁性測(cè)厚方法的原理,或是測(cè)量*磁鐵(探頭)和基體金屬之間由于存在覆蓋層而引起磁引力的變化,或是測(cè)量通過覆蓋層和基體金屬磁路的磁阻變化。因此,磁性測(cè)厚儀也包含兩種類型:一類是測(cè)量某一磁體與基體金屬間的磁引力;另一類是測(cè)量通過覆蓋層和基體金屬磁通路的磁阻。
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