奧林巴斯超聲探傷儀單晶縱波探頭 返回列表頁

優(yōu)勢

• WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。• 所有這類探頭都可用于檢測面粗糙的工業(yè)部件。• 具有與大多數金屬匹配的近似聲阻抗。• 可用于檢測多種材料。

應用

• 垂直聲束缺陷探測和厚度測量。• 分層缺陷的探測和定量。• 材料特性評價和聲速測量。• 檢測平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。• 可在50°C（122°F）的高溫下持續(xù)使用。

磁性固定接觸式

• 繞探頭外殼的磁性環(huán)可將探頭穩(wěn)固在鐵性材料上。

• 具有與Videoscan系列探頭相似的寬帶性能

奧林巴斯超聲探傷儀測頭M1054

介紹

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

注意：以上所有磁性固定接觸式探頭都帶有平直Microdot 連接器。

高頻探頭：

高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進行厚度測量（取決于材料、探頭、表面條件、溫度和設置）。高頻聚焦水浸探頭是對硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進行高分辨率成像和缺陷探測應用的理想探頭。

高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產生等于或高于20 MHz的頻率。

優(yōu)勢

• 強阻尼寬帶設計提供了很好的時間分辨率。

• 短波長可獲得很好的缺陷分辨率能力。

• 直徑極小的聲束也可以聚焦。

• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。

應用

• 高分辨率缺陷探測，如：微孔隙檢測或微裂紋檢測。

• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。

• 可測量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度

• 可對陶瓷及高級工程材料進行檢測。

• 可對材料進行分析。

*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設置。高頻接觸式

• 使用直接接觸檢測法時，利用熔融石英延遲塊可進行缺陷評價、材料分析或厚度測量。

•3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。

• 其標準連接器類型為直角Microdot（RM）。