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氣體中微量水分析方法---露點(diǎn)法原理
閱讀:1195發(fā)布時(shí)間:2023-4-4
氣體中微量水分析方法---露點(diǎn)法原理
露點(diǎn)法
當(dāng)一定體積的氣體在恒定的壓力下均勻降溫時(shí),氣體和氣體中水分的分壓保持不變,直至氣體中的水分達(dá)到飽和狀態(tài),該狀態(tài)下的溫度就是氣體的露點(diǎn)。通常是在氣體流經(jīng)的測(cè)定室中安裝鏡面及其附件,通過(guò)測(cè)定在單位時(shí)間內(nèi)離開和返回鏡面的水分子數(shù)達(dá)到動(dòng)態(tài)平衡時(shí)的鏡面溫度來(lái)確定氣體的露點(diǎn)。一定的氣體濕度對(duì)應(yīng)-一個(gè)露點(diǎn)溫度; 一個(gè)露點(diǎn)溫度對(duì)應(yīng)一定的氣體濕度。因此測(cè)定氣體的露點(diǎn)溫度就可以測(cè)定氣體的濕度。由露點(diǎn)可以得到絕對(duì)濕度,由露點(diǎn)和所測(cè)氣體的溫度可以得到氣體的相對(duì)濕度。
該方法適用于氫、氧、氮、氦、氖、氬、氪、氙、氧化亞氮、六氟化硫等氣體以及由它們能夠組成的混合氣體中微量水分的測(cè)定,不適用于在水分冷凝前就冷凝的氣體以及能與水分發(fā)生反應(yīng)的氣體。測(cè)量的露點(diǎn)范圍是0~ -100 C。該方法的主要優(yōu)點(diǎn)是精度高,尤其是在采用半導(dǎo)體制冷和光電檢測(cè)技術(shù)后,不確定度甚至可達(dá)0.1 C;缺點(diǎn)是響應(yīng)速度較慢,尤其是在露點(diǎn)-609C以下,平衡時(shí)間甚至達(dá)幾個(gè)小時(shí),而且此方法對(duì)樣氣的腐蝕性及清潔性要求較高,否則會(huì)影響光電檢測(cè)效果或產(chǎn)生“偽結(jié)露"造成測(cè)量誤差。
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