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繼電保護(hù)測(cè)試儀開(kāi)入量原理簡(jiǎn)析與接線方法

2025-6-17  閱讀(133)

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進(jìn)行繼電保護(hù)裝置測(cè)試時(shí),繼電保護(hù)測(cè)試儀的開(kāi)入量與保護(hù)裝置動(dòng)作與否、動(dòng)作時(shí)間等息息相關(guān)。 現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)繼電保護(hù)跳了,但繼保測(cè)試儀未收到動(dòng)作接點(diǎn),檢查開(kāi)入接線、保護(hù)動(dòng)作均良好,單獨(dú)短接開(kāi)入量進(jìn)行測(cè)試時(shí)也顯示正常。 針對(duì)此類(lèi)問(wèn)題,我們可以從開(kāi)入量的原理入手進(jìn)行分析?! ?/p>

繼電保護(hù)測(cè)試儀開(kāi)入量原理簡(jiǎn)析與接線方法


△ 圖1 開(kāi)入量端子原理圖  

繼電保護(hù)測(cè)試儀開(kāi)入量原理簡(jiǎn)析與接線方法


△ 圖2 無(wú)電位接點(diǎn)        △ 圖3 帶電位接點(diǎn)

  圖1以開(kāi)入A舉例說(shuō)明,其他路開(kāi)入量與開(kāi)入A原理相同,并共用電源和COM端。 設(shè)圖中電壓源電壓為 U1,圖1中O1為光耦,光耦負(fù)邊通至測(cè)試裝置主板,當(dāng)光耦由通變斷或由斷變通,即光耦的通斷狀態(tài)有變化時(shí),測(cè)試儀會(huì)記錄光耦狀態(tài)變化瞬間的時(shí)刻。

  此電路的工作原理: O1最小導(dǎo)通電流為Imin,最大工作電流為Imax,回路電流為I,當(dāng)I≥Imin,時(shí),O1導(dǎo)通,IImax時(shí),電路燒壞。 下面我們以不帶電位接點(diǎn)(圖 2)和帶電位接點(diǎn)(圖3)兩種情況進(jìn)行說(shuō)明。

  直接從保護(hù)裝置跳閘端子接線,未引入直流電源回路。 試驗(yàn)時(shí)可能會(huì)出現(xiàn)兩種接法:

  1、取1、2兩點(diǎn)接入測(cè)試裝置的開(kāi)入量COM、A,由于無(wú)電位,兩點(diǎn)接線可以任意交換。 此時(shí),若開(kāi)關(guān)為分,電路開(kāi)路, I=0,光耦不通。 當(dāng)保護(hù)裝置給出跳閘信號(hào)時(shí),圖中開(kāi)關(guān)會(huì)由分到合,此時(shí) ,(U1、R1、R2的值固定)光耦導(dǎo)通,測(cè)試裝置記錄動(dòng)作。 此種接法進(jìn)行測(cè)試時(shí)通常不會(huì)出現(xiàn)異常。

  2、當(dāng)從1、3兩點(diǎn)接入時(shí),回路中多串入一個(gè)電阻R,此時(shí) ,電流I的大小取決于R,R越大,I越小,當(dāng)R足夠大導(dǎo)致I

  2、COM接點(diǎn)1,A接點(diǎn)3,此種情況開(kāi)關(guān)未閉合時(shí)電流 ,光耦不通。 當(dāng)保護(hù)跳閘,開(kāi)關(guān)閉合時(shí),開(kāi)關(guān)兩端電壓為 0V,此時(shí)電流 ,光耦還是不通,測(cè)試裝置無(wú)法記錄動(dòng)作,因此此種接法錯(cuò)誤。

  3、COM接點(diǎn)2,A接點(diǎn)3,此種情況開(kāi)關(guān)未閉合時(shí),電流 ,若R較小,能使I≥Imin,則光耦導(dǎo)通,當(dāng)保護(hù)跳閘,開(kāi)關(guān)閉合時(shí),電阻R上的電壓UR=U2,電流 ,光耦不通。 這樣光耦由通變?yōu)椴煌?,狀態(tài)有變化,測(cè)試裝置能正常記錄動(dòng)作時(shí)間。 若 R較大,使得開(kāi)關(guān)未閉合時(shí)電流 ,光耦不通,此種情況無(wú)論開(kāi)關(guān)是否閉合,光耦均不通,測(cè)試裝置無(wú)法正常記錄保護(hù)動(dòng)作。 因此此種接法和不帶電位的第二種接法一樣,能否正常測(cè)試均取決于 R的大小,一般不建議采用。

  除此之外,還有其他接線方法以及純電位高低的測(cè)試,其原理和以上列舉的基本類(lèi)同,不再贅述。

  綜上所述,現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí),無(wú)論是不帶電位接點(diǎn)還是帶電位接點(diǎn),接線盡量采用兩種情況下列舉的第一種接線方式,通常不會(huì)出現(xiàn)異常。 無(wú)法正常記錄時(shí),可以甩開(kāi)保護(hù)接線,在測(cè)試裝置運(yùn)行時(shí)用短接線直接對(duì) A和COM短接,若測(cè)試裝置能正常記錄動(dòng)作,則可以排除繼保測(cè)試儀的故障。

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