詳細介紹
ORTEC帶電粒子探測器?
1 帶電粒子的測量與探測器的基本類型
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用于alpha能譜測量的ULTRA和ULTRA-AS探測器采用了表面鈍化和離子注入工藝(即PIPS探測器),該工藝的探測器有諸多優(yōu)點:接觸極更薄,更堅固;低噪聲,對Alpha能譜分辨率好;使用邊緣鈍化技術,可以使樣品離探測器入射窗小到1毫米。而一般的面壘型探測器zui小只能達到2.5毫米。所以該類型探測器的效率要更高;常溫使用,探測器窗可擦拭。
Ultra-AS針對Ultra的區(qū)別或改進是采用了進一步低本底的材料,以專適于在ORTEC Alpha Suite譜儀。
ULTRA-CAM系列則是針對氣溶膠連續(xù)監(jiān)測設計,探測器具有特殊密閉和抗潮性能。
Beta能譜測量的難處在于常溫狀態(tài)下由硅探測器很難獲得良好的分辨率。ORTEC提供以下兩種解決方案:1,Beta-X Si(Li)一體化探測器(包含探頭,冷指前放);2,A和L系列可制冷的厚硅探測器。
ORTEC帶電粒子探測器在核物理實驗中的應用有諸多方面,ORTEC在其探測器類型上都有相應的側重。比如重離子由于其高度電離和短徑跡特性,需要探測器在前接觸級具有強電場,適用的F系列探測器在前接觸級的場強為20,000V/cm。而對帶電粒子的時間譜測量,需要用ULTRA系列或能承受超電壓的強場局部耗盡探測器。
ORTEC帶電粒子探測器
ULTRA與ULTRA-AS系列離子注入硅探測器
A系列局部耗盡金硅面壘探測器
B系列全耗盡金硅面壘探測器
C系列環(huán)形局部耗盡金硅面壘探測器
D系列平面全耗盡金硅面壘探測器
F系列局部耗盡重離子金硅面壘探測器
L系列鋰漂移硅(室溫)探測器
?帶電粒子探測器
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