粉末衍射儀XRD

X射線粉末衍射儀XRD

一、儀器概述：

多晶X射線衍射儀用于晶體物質結構定性定量分析。該產(chǎn)品功能齊全，靈活適應各種物質微觀結構的測試、分析和研究。產(chǎn)品采用了θ-θ測角儀立式、中空軸、射線管座與測角臺一體化的結構，可對粉末、大塊不規(guī)則固體、液體樣品進行測試。

二、主要特點：

1. 結構新，采用立式測角儀結構，更加方便的樣品放置方式，對于操作、維護的工作力度大為簡化，更加直觀的使用，便于清理實驗后的樣品臺。

2. 進口NaI閃爍晶體計數(shù)探測器，分辨率及長時間使用穩(wěn)定性好。

3. X射線管套采用整體銅棒材加工定位精度、射線防護性更好；采用了轉輪式快門，開關速度快，故障率低，射線阻斷性好，機柜外輻射劑量低。

4. X射線光源的數(shù)字控制電路作了進一步的改善，X光機的工作功率*由計算機遙控設定。高壓與管流的加載過程受微電腦控制自動操作，使用更加簡單，運行更加可靠。

5. 中英文視窗操作界面，全新改版的PDP衍射數(shù)據(jù)處理軟件包，支持多種數(shù)據(jù)輸出方式。

 X射線粉末衍射儀XRD

三、主要技術指標：

1. 瑞士進口MYTHEN探測器無噪聲和暗電流，的一維（1D）探測器動態(tài)范圍、線性和分辨率，*的光子計數(shù)探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。。

2. 金屬陶瓷X射線管、Cu靶、功率2.4KW、風冷或是水冷自由選擇。

3. 測角儀衍射圓半徑大于等于150mm。

4. 測角儀重現(xiàn)性：0.0001度。

5. 測角儀角度重現(xiàn)性：0.0006度。

6. 可控小步進：0.0001度。