二維雙能陣列光子計(jì)數(shù)衍射儀X射線探測(cè)器

二維雙能陣列光子計(jì)數(shù)衍射儀X射線探測(cè)器
在DECTRIS公司所有應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室的探測(cè)器產(chǎn)品系列中，EIGER2 R系列探測(cè)器結(jié)合了所有混合光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的*技術(shù)。 它所具有的雙能量識(shí)別有助于在微弱信號(hào)和長(zhǎng)時(shí)間曝光的條件下進(jìn)行背景抑制和提高信噪比。

EIGER2 R 250K雙能粉末衍射儀探測(cè)器

 二維雙能陣列光子計(jì)數(shù)衍射儀X射線探測(cè)器

 

1、產(chǎn)品特點(diǎn)：

      在DECTRIS公司所有應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室的探測(cè)器產(chǎn)品系列中，EIGER2 R系列探測(cè)器結(jié)合了所有混合光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的*技術(shù)。  它所具有的雙能量識(shí)別有助于在微弱信號(hào)和長(zhǎng)時(shí)間曝光的條件下進(jìn)行背景抑制和提高信噪比。其*的計(jì)數(shù)率性能可以準(zhǔn)確地測(cè)量*強(qiáng)度的X射線。利用該系列探測(cè)器的巨大動(dòng)態(tài)范圍，可以在零死時(shí)間同步讀/寫的狀態(tài)下進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間曝光。由于具備可選擇的真空兼容性，從而使空氣和窗口所產(chǎn)生的吸收和散射小化。小尺寸像素與X射線直接探測(cè)相結(jié)合，提高了空間分辨率和角度分辨率，可以進(jìn)行精細(xì)地測(cè)量樣品并具有寬泛的倒易空間。可以在三種不同的型號(hào)中進(jìn)行選擇以滿足您的需求。

 

2、核心優(yōu)勢(shì)：

       – 雙能識(shí)別有助于抑制低能量和高能量的背景

       – 由于零背景噪音和同時(shí)讀寫，所以具有很高的動(dòng)態(tài)范圍

       – 小尺寸像素和*的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)有助于獲得高的空間分辨率

       –  可定制在真空環(huán)境下使用；

       –  免維護(hù)

 

3、應(yīng)用領(lǐng)域：

       - 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/WAXS）；

       - 大分子晶體學(xué)（MX）；

       - 化學(xué)結(jié)晶學(xué)；

       - 單晶衍射（SCD）；

       - 粉末衍射（PD）；

       - X射線成像；

       - 表面衍射；

       - 漫散射。

 

 

4、技術(shù)參數(shù)：

 

 

EIGER2 R	250K	500K	1M	4M
探測(cè)器模塊數(shù)量	1	1	1 x 2	2 x 4
有效面積：寬x高 [mm2]	38.4 x 38.4	77.2 x 38.6	77.1 x 79.7	155.1 X 162.2
像素大小 [μm2]	75 x 75
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)	1 pixel
能量閾值	2
閾值范圍（KeV）	3.5-30
大計(jì)數(shù)率（cps/mm2）	6.9×108
計(jì)數(shù)器深度（bit/threshold）	2×16
大幀速率 [Hz]	50	50	100	20
采集模式	同時(shí)讀/寫，死區(qū)時(shí)間為零
圖像位深度（bit）	32
可選真空兼容	Yes
冷卻方式	風(fēng)冷	風(fēng)冷	水冷	水冷
尺寸（WHD）[mm3]	100 x 140 x 93	100 x 140 x 93	114 x 133 x 240	235 x 235 x 372
重量 [kg]	1.8	1.8	4.7	15

 

二維雙能陣列光子計(jì)數(shù)衍射儀X射線探測(cè)器