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MiniTest 7400高精度涂層測(cè)厚儀中文資料

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德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司全新的MiniTest7400高精度涂層測(cè)厚儀

特點(diǎn)
- 高精度涂層測(cè)厚儀
- 所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量
- 多種圖形顯示選項(xiàng)
- 菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理
- 用于簡(jiǎn)易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件
- 測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭
- SIDSP®技術(shù)提升精確度和重現(xiàn)性

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